全反射X射線螢光光譜法（total reflection X-ray fluorescence spectrometry）是2016年公布的化學名詞。
全反射X射線螢光光譜法（total reflection X-ray fluorescence spectrometry）是2016年公布的化學名詞。定義初級X射線束以低於或接近於全反射臨界角投射到反射體經全反射後投射到...
螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特徵X射線（X光螢光）而進行物質成分分析和化學態研究。1948年由...
X射線螢光光譜分析法，利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面，X射線螢光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。簡史 20世紀20年代...
詞目：全反射X射線螢光分析 英文：total reflection X-ray fluorescence(TRXF)釋文：由於採用全反射X射線激發，散射本底極低，檢出限可低至10^-7～10^-I2克。由於其取樣量小、檢出限低的優勢，克服了常規XRF取樣量大、靈敏度低這些...
《X射線全反射裝置與全反射X螢光分析技術》是由地礦部物化探研究所、地礦部成都地質礦產研究所、河北礦產測試套用研究所擔任第一完成單位，由李國會、朱永奉、黃新躍、殷萍君、樊守忠擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 “X射線...
X射線螢光譜法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種方法。從每種元素激發出的X射線特徵(螢光)譜線都有其特徵波長值，其峰值強度與該元素在材料中的含量有關。出處 《材料科學技術名詞...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍：Al~U（靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外） 濃度範圍：10-9~100% 檢出限：Ni≤2pg 激發源：最大功率≥30W；最大激發...
《X射線螢光光譜法測定鈉鈣矽玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量》是2022年6月1日實施的一項中國國家標準。編制進程 2021年11月26日，《X射線螢光光譜法測定鈉鈣矽玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO...
第二節 能量色散X射線螢光光譜儀 第三節 同位素源激發X射線螢光光譜儀 第四節 偏振激發X射線螢光光譜儀 第五節 全反射X射線螢光光譜儀 第六節 聚束毛細管透鏡微束XRF光譜儀 參考文獻 第六章 定性與定量分析方法 第一節 定性分析 ...
《X射線螢光光譜法黃金含量分析儀校準規範(JJF 1133-2005)》為中華人民共和國國家計量技術規範JJF1133—2005。本標準是由國家質量監督檢驗檢疫總局發布的。本標準是由國家質量監督檢驗檢疫總局2005—04—28批准，於2005—07—28正式實施。...
《冶金產品分析方法—X射線螢光光譜法通則》是2020年5月1日實施的一項中國國家標準。編制進程 2019年6月4日，《冶金產品分析方法—X射線螢光光譜法通則》發布。2020年5月1日，《冶金產品分析方法—X射線螢光光譜法通則》實施。起草工作 ...
《稻米鎘的測定 X射線螢光光譜法》是2015年10月01日實施的一項行業標準。起草人 楊植崗、劉明博、陳永彥、廖學亮、許艷霞、倪小英、覃世民、梅廣、黃力 起草單位 鋼研納克檢測技術有限公司、湖南省糧油科學研究設計院(湖南省糧油產品質量...
