《X射線全反射裝置與全反射X螢光分析技術》是由地礦部物化探研究所、地礦部成都地質礦產研究所、河北礦產測試套用研究所擔任第一完成單位，由李國會、朱永奉、黃新躍、殷萍君、樊守忠擔任主要完成人的科研項目。
基本介紹
- 中文名：X射線全反射裝置與全反射X螢光分析技術
- 成果登記號：19970453[08592]
- 第一完成單位：地礦部物化探研究所、地礦部成都地質礦產研究所、河北礦產測試套用研究所
- 項目類別：科研項目
成果信息,成果摘要,
成果信息
成果登記號 | 19970453[08592] |
項目名稱 | X射線全反射裝置與全反射X螢光分析技術 |
第一完成單位 | 地礦部物化探研究所、地礦部成都地質礦產研究所、河北礦產測試套用研究所 |
主要完成人 | 李國會、朱永奉、黃新躍、殷萍君、樊守忠 |
研究起始日期 | 1991-06-01 |
研究終止日期 | 1996-11-01 |
主題詞 | X射線螢光;分析儀器;全反射X射線螢光分析 |
任務來源 | B |
成果摘要
“X射線全反射裝置與全反射X螢光分析技術”研究是地礦部“八五”重點地質科研：85－09－039。全反射X射線螢光（TXRF）分析是進行微痕量及超痕量元素分析，材料表面分析、結構分析的新技術。TXRF光譜新的高靈敏度的分析技術已在地質、礦物、環保、生物醫學、生物化學、海洋學、半導體材料等領域得到了日益廣泛的套用。TXRF分析儀包KV，220mA（銅靶，鉬靶X光管）X射線衍射儀測角儀，X射線全反射裝置（三重全反射X光路的反射體及相應的限束光欄）和能譜測量系統（包括探測器），對5．9KeV的能量解析度為165eV，16384道脈衝高度分析器，主和相應的能譜獲取、譜數據處理軟體。X射線全反射裝置光路構件全長寬70mm。從能量切割反射體中心到載樣反射體中心僅幾十mm，是較精緻緊湊測性能指標為：1．（可測定周期表＝14）到U（Z＝92）的79種元素；靶或鑰靶X光管激發，檢出限為10ˉ10－10ˉ11g；3．校準曲線線性範圍跨越4個數量級；4．儀器穩定性為0.58％；5．制樣重現性（對納克及含量水平）為9．5％；6．對地氣、水樣、生物等多多元素進行了分析，得到了好的結果。
