X射線螢光分析方法

X射線螢光分析方法是一種現代光學分析方法。X射線照射物質時，除發生散射現象和吸收現象外，還能產生次級X射線，即螢光X射線。螢光X射線的波長只取決於物質中原子的種類。因此，根據螢光X射線的波長就可確定物質的元素組分;再根據該螢光X射線的強度，還可定量分析所屬元素的含量。20世紀50年代開始發展，60年代得以推廣套用。目前，已廣泛用於合金、礦石、玻璃、陶瓷、油漆、塑膠、石油等材料的元素分析。

其優點是：①分析的元素範圍廣，除少數輕元素外，周期表中幾乎其他所有的元素都能進行分析。隨著儀器的改進，分析元素已經擴展到F，O，C等輕元素。②螢光X射線譜簡單，譜線干擾少，對於化學性質極其相似的元素，如稀土、鋯鉿、鉑系等，不需經過複雜的分離，就能成功地完成分析工作。③分析的濃度範圍較寬，從常量組分到痕量雜質都能測定。目前主要用於常量分析和一些元素的微量分析。④分析試樣不受破壞，分析迅速準確，也便於實現自動化，因此在生產中越來越多地用於流水線分析。