X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線螢光能譜儀EDXRF
- 產地:瑞士
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2018年4月27日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
X射線螢光能譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年6月9日啟用。技術指標 1 分析元素範圍:Na11~Bk97 2 能量解析度(Mn-Ka):優於140eV,在30,000cps下。嚴格依照ISO15632國際標準測量 3 可處理最大計數率:850,000CPS,最...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍:O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍:0.1ppm到100% 高壓發生器: S8 Tiger最大功率≥4kW;最大電壓≥60kV,20-60 kV 間 1 ...
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%; 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
根據分光方式的不同,X射線螢光分析可分為能量色散和波長色散兩類,也X射線螢光分析就是通常所說的能譜儀和波譜儀,縮寫為EDXRF和WDXRF。通過測定螢光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線螢光分析,相應的儀器稱...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。技術指標 X射線管靶: 銠靶(Rh) X射線管壓: 60KV(Max) X射線管壓: 150mA(Max)檢測元素範圍:19F...
X射線螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年12月1日啟用。技術指標 X射線光管陽極材料:銠靶 最大功率:4kW 最大額定電壓:60kV 最大額定電流:160mA 樣品最大尺寸:直徑51.5mm,高40mm 分析腔體溫度:30±0.05℃...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以對5B到92U進行快速定性、定量分析,元素的檢量範圍0.0001%~...
X射線螢光分析法(X-ray fluorescence analysis),是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的螢光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得螢光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性...
X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年5月1日啟用。技術指標 懸浮顆粒物過濾器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法醫及痕量分析 營養補充劑 磁性介質和半導體 土壤污染 過濾...
X射線螢光光譜分析法,利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面,X射線螢光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。簡史 20世紀20年代...
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器,於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW,穩定度±0.0005%,測角儀角度準確度≤±0.001°;角度重複性≤±0.0001°分光晶體:LiF(200),PET,XS55,LiF(220),Ge晶體,測試...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差:Cd:7.7%;儀器測量重複性: Cd:1.5%;線性誤差的擴展不確定度:U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
螢光x射線分析是x射線發射光譜分析方法之一。當試樣受到高能量的入射線轟擊時,其中各組分元素的原子受到激發而產生次級的特徵x射線,即為螢光x射線。簡介 螢光x射線分析即X射線螢光光譜分析,不同元素具有波長不同的特徵螢光x射線譜線...
X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測...
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年4月1日啟用。技術指標 X射線管 4KW薄窗,Rh靶,管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-300°/min,定位重現性...
多道X射線螢光光譜儀是一種用於交通運輸工程領域的分析儀器,於2011年12月13日啟用。技術指標 可同時無損分析36種元素,分析範圍4Be~92U。主要功能 能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量,具有靈敏度高、精度好、性能穩定、分析...
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術,更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀,業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...
X-射線螢光岩芯掃瞄器是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2015年9月7日啟用。技術指標 彩色線性分析,曝光時間:10.0ms;元素組分分析:步長:0.1mm,1mm,2mm;磁化率測試:步長:2mm。主要功能 沉積物柱的彩色線性分析、磁化率...
微聚焦X射線螢光能譜儀是一種用於考古學領域的分析儀器,於2016年7月29日啟用。技術指標 光學顯微鏡引導,尖銳X射線(微米到毫米),可實現微區元素分析和線掃描、面掃描分析。電壓,10to 50kV ,調整階躍值為1kV;電流10 to 1000μ...
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器,配0.23°,0.46°兩個準直器; 自動進樣器:60位X-Y二維全自動機器人進樣器; 高壓發生器: 穩定性:外電源波動±1%...
X射線螢光顯微分析儀 X射線螢光顯微分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2005年6月8日啟用。技術指標 分析元素Na-U,能量解析度FWHM 主要功能 材料分析,微區成分分析,光學圖像觀察,內部異物分析,圖像處理。
第四章 能量色散X射線螢光光譜儀結構 §4.1 概述 §4.2 通用型和手持式EDXRF譜儀測量單元 §4.3 微束EDXRF譜儀測量單元 §4.3.1 X射線透鏡及其性能 §4.3.2 微束EDXRF譜儀結構 §4.4 偏振EDXRF譜儀測量單元 §4.5 全反射EDXRF譜儀...