掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年4月1日啟用。
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年4月1日啟用。技術指標X射線管 4KW薄窗,Rh靶，管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-3...
全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器，於2006年4月15日啟用。技術指標 Cu Kα強度827Kcps Al Kα強度712Kcps RSD=0.024% PR=0.12% Sc=45.1% Pc=31.2%。主要功能 電子和磁性材料、化學工業...
X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X螢光（二次X射線），探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的...
螢光光譜儀簡介 結構 由光源、激發光源、發射光源、試樣池、檢測器、顯示裝置等組成。分類 螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光（波長和能量）掃描光譜 3.3D（Ex...
全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年04月30日啟用。技術指標 1 類型：順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀； 2 元素分析範圍：氧(8)—鈾(92)； 3 濃度範圍從ppm到主含量； 4 長期動態綜合穩定性：≤0...
同時，X 射線螢光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面首選儀器之一。產品特點 1、在測定微量成分時，由於X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特徵譜線等的散射X...
岩芯掃描X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2012年3月8日啟用。技術指標 可測量長度：小於等於1750mm，口徑介於30-120mm，最高測量解析度0.1mm，可測量元素範圍：Al-U之間的108種元素。主要功能 掃描岩芯中化學元素成分...
掃描X射線光譜儀 掃描X射線光譜儀是2003年公布的機械工程名詞。定義 能對其中不同波長的X射線光譜進行連續研究的X射光譜儀。出處 《機械工程名詞 第三分冊》。
因此，就產生出了 x 射線螢光與 X 射線衍射聯用、帶微區掃描分析的 x 射線螢光光譜儀，將被測物件中各元素含量分布以三維圖像顯示出來。5、樣品更換 自動化 現代 X 射線螢光譜儀，無論是波長色散 X射線螢光光譜儀還是能量色散 X ...
在波長色散型儀器中，根據可同時分析元素的多少可分為，單道掃描X螢光光譜儀、小型多道X螢光光譜儀和大型X螢光光譜儀。選型誤區 隨著技術發展，X射線螢光分析儀的種類越來越多，商品名稱也比較混亂，再加上用戶對相關知識的了解有限，...
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
利用X射線螢光分析原理對樣品中的元素進行定性、定量分析。可以對塊狀固體、壓型或鬆散粉末、熔融片、液體、金屬片、顆粒狀和薄膜樣品中含量＞0.0001%的元素進行分析，適用於鋼鐵、有色金屬及稀土冶金、水泥、石化、地質、環境、生物、...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒；角度準確度優於±0.001°，角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測，具有...
X射線螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2017年12月1日啟用。技術指標 X射線光管陽極材料：銠靶 最大功率：4kW 最大額定電壓：60kV 最大額定電流：160mA 樣品最大尺寸：直徑51.5mm，高40mm 分析腔體溫度：30±0.05℃...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差：Cd：7.7%；儀器測量重複性： Cd：1.5%；線性誤差的擴展不確定度：U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
X螢光光譜儀EDX1800B是眾和儀器最新推出，針對EDX1800B在各個領域的廣泛套用。性能優勢 下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的套用 移動平台：精細的手動移動...
x螢光岩心掃瞄器是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器，於2017年7月1日啟用。技術指標 一次掃描即可獲得 Mg 到U 之間的絕大部分的元素濃度。主要功能 1. 高解析度XRF 元素濃度； 2. 高清光學照相； 3. 點狀磁化率。
X射線螢光光譜儀Axiosmax是一種用於地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2016年11月2日啟用。技術指標 1.允許元素分析範圍：Be（4）－U（92） 2. 測角儀重現性：0.0001度。主要功能 （1）樣品中不同元素的定性...
分析精度高。 可以對4Be到92U進行定性、定量分析。 元素的檢量範圍從0.0001% ~ 100%，如進行前處理，可以再下降2 ~ 3個數量級。 可以分析材料的狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。 對應超輕元素的X射線光管 採用4kW、30...
到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，並作為過程控制的工具，廣泛套用於採掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由於儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線螢光光譜儀，...
X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2012年5月22日啟用。技術指標 可分析F-U間元素：常量(%)-微量(ppmm)，精密度(主、次量元素)RSD%:0.1-1.0。計數線性：SC為1500kcps，FPC為3000kcps。動態長期穩定性：0....
X-射線螢光岩芯掃瞄器是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2015年9月7日啟用。技術指標 彩色線性分析，曝光時間：10.0ms；元素組分分析：步長：0.1mm，1mm，2mm；磁化率測試：步長：2mm。主要功能 沉積物柱的彩色線性分析、磁化率及...
X射線螢光分析儀是通過X射線管產生的X射線作為雷射源，激發樣品產生螢光X射線。根據螢光X射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。簡介 該儀器通常能夠一次性檢測出多達25多種礦石及金屬元素，具體包括：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni,...
元素1的含量多，螢光X射線的強度就會變強。注意到這一點，如果預先知道已知濃度樣品的螢光X射線強度，就可以推算出樣品中元素1的含量。採用定量分析的時候，可以在樣品中加入高純度的二氧化矽，作為參比樣，並且摻量是已知的。這樣可以間接...
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器，於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW，穩定度±0.0005%，測角儀角度準確度≤±0.001°；角度重複性≤±0.0001°分光晶體：LiF(200)，PET，XS55，LiF(220)，Ge晶體，測試范...
第十一章X射線螢光光譜儀的特性與參數選擇153 第一節波長色散型X射線螢光光譜儀的特性與技術進展153 第二節X射線高壓發生器154 第三節X射線光管特性與選擇使用154 第四節濾光片、狹縫和準直器156 第五節晶體適用範圍及其選擇157 第...
高解析度XRF元素掃瞄器是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2017年06月13日啟用。技術指標 1. X射線發生器系統：50kV，2mA，最大負荷100watt。 2. X射線源：電壓4-50kV，電流0-2mA。最大額定功率100Watt。 3. X射線顯像管、...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
