全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器,於2006年4月15日啟用。
基本介紹
- 中文名:全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀
- 產地:日本
- 學科領域:化學、地球科學
- 啟用日期:2006年4月15日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器,於2006年4月15日啟用。
全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器,於2006年4月15日啟用。技術指標Cu Kα強度827Kcps Al Kα強度712Kcps RSD=0.024% PR=0.12% Sc=45....
全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年04月30日啟用。技術指標 1 類型:順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀; 2 元素分析範圍:氧(8)—鈾(92); 3 濃度範圍從ppm到主含量; 4 長期動態綜合穩定性:≤0...
順序式X射線螢光光譜儀,成份分析儀器,主要用於各種岩礦和建材的分析。主要用途 分析元素範圍:F-U;分析含量範圍:微量(ppm)一常量(%)主要用於各種岩礦和建材的分析,如:矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、...
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X螢光(二次X射線),探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的...
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光(波長和能量)掃描光譜 3.3D(Ex Em Intensity)4.Time Base和CWA(固定波長單點測量)5.螢光壽命測量,包括壽命分辨及...
如果某種元素 的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的機率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。5、在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。技術參數 ...
因此,就產生出了 x 射線螢光與 X 射線衍射聯用、帶微區掃描分析的 x 射線螢光光譜儀,將被測物件中各元素含量分布以三維圖像顯示出來。5、樣品更換 自動化 現代 X 射線螢光譜儀,無論是波長色散 X射線螢光光譜儀還是能量色散 X ...
利用X射線螢光分析原理對樣品中的元素進行定性、定量分析。可以對塊狀固體、壓型或鬆散粉末、熔融片、液體、金屬片、顆粒狀和薄膜樣品中含量>0.0001%的元素進行分析,適用於鋼鐵、有色金屬及稀土冶金、水泥、石化、地質、環境、生物、...
第十一章X射線螢光光譜儀的特性與參數選擇153 第一節波長色散型X射線螢光光譜儀的特性與技術進展153 第二節X射線高壓發生器154 第三節X射線光管特性與選擇使用154 第四節濾光片、狹縫和準直器156 第五節晶體適用範圍及其選擇157 第...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差:Cd:7.7%;儀器測量重複性: Cd:1.5%;線性誤差的擴展不確定度:U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
在波長色散型儀器中,根據可同時分析元素的多少可分為,單道掃描X螢光光譜儀、小型多道X螢光光譜儀和大型X螢光光譜儀。選型誤區 隨著技術發展,X射線螢光分析儀的種類越來越多,商品名稱也比較混亂,再加上用戶對相關知識的了解有限,...
X射線螢光光譜儀Axiosmax是一種用於地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2016年11月2日啟用。技術指標 1.允許元素分析範圍:Be(4)-U(92) 2. 測角儀重現性:0.0001度。主要功能 (1)樣品中不同元素的定性...
根據產生的螢光X射線的強度,就能定量地求出各元素含量,就是是螢光X射線定量分析的基礎。X射線螢光光譜儀,根據分光原理,可以分為波長色散型和能量色散型兩種基本類型。波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、...
X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2012年5月22日啟用。技術指標 可分析F-U間元素:常量(%)-微量(ppmm),精密度(主、次量元素)RSD%:0.1-1.0。計數線性:SC為1500kcps,FPC為3000kcps。動態長期穩定性:0....
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
台式X射線螢光光譜儀有比攜帶型光譜儀更高的解析度,通過在激發和探測技術上的革新,其對元素的定性和定量分析可以和大型落地式光譜儀相媲美,且其小巧的體積及簡單的安裝要求使其具有廣泛的套用前景。簡介 X射線螢光分析是確定物質中元素...
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術,更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀,業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...