X-螢光光譜儀

X-螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2009年5月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：X-螢光光譜儀
• 產地：荷蘭
• 學科領域：化學、材料科學、化學工程
• 啟用日期：2009年5月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器

技術指標

檢測元素範圍：O～U (Be～N需另外配置分光晶體)；測量範圍ppm～100%;檢測器：流氣正比探測器和閃爍探測器；長期穩定性：0.04%。

主要功能

利用X射線螢光分析原理對樣品中的元素進行定性、定量分析。可以對塊狀固體、壓型或鬆散粉末、熔融片、液體、金屬片、顆粒狀和薄膜樣品中含量＞0.0001%的元素進行分析，適用於鋼鐵、有色金屬及稀土冶金、水泥、石化、地質、環境、生物、食品、電子材料、考古、珠寶無損檢測等領域。