X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。
基本介紹
- 中文名:X-射線螢光光譜儀
- 產地:日本
- 學科領域:物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術
- 啟用日期:2013年5月5日
- 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 圓二色光譜儀
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。
根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀...
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。技術指標 X射線管靶: 銠靶(Rh) X射線管壓: 60KV(Max) X射線管壓: 150mA(Max)檢測元素範圍:19F...
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%; 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
X射線螢光分析儀誕生至今,已發展到第三代。X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍:O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍:0.1ppm到100% 高壓發生器: S8 Tiger最大功率≥4kW;最大電壓≥60kV,20-60 kV 間 1 ...
同時樣品受激發後發射某一元素的特徵X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關,因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此,X射線螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。為了滿足現代企業管理和生產要求,...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線),從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差:Cd:7.7%;儀器測量重複性: Cd:1.5%;線性誤差的擴展不確定度:U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒;角度準確度優於±0.001°,角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測,具有...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍:Al~U(靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外) 濃度範圍:10-9~100% 檢出限:Ni≤2pg 激發源:最大功率≥30W;最大激發...
只要測出一系列X射線螢光譜線的波長,即能確定元素的種類;測得譜線強度並與標準樣品比較,即可確定該元素的含量。由此建立了X射線螢光光譜 (XRF)分析法。簡介 是介於原子發射光譜(AES)和原子吸收光譜(AAS)之間的光譜分析技術。基本...
X-射線螢光岩芯掃瞄器是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2015年9月7日啟用。技術指標 彩色線性分析,曝光時間:10.0ms;元素組分分析:步長:0.1mm,1mm,2mm;磁化率測試:步長:2mm。主要功能 沉積物柱的彩色線性分析、磁化率...
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器,於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW,穩定度±0.0005%,測角儀角度準確度≤±0.001°;角度重複性≤±0.0001°分光晶體:LiF(200),PET,XS55,LiF(220),Ge晶體,測試...
N-Kα為12.2Kcps; C-Kα為543Kcps; Al-Kα在PX-25晶體下為892 Kcps。主要功能 X-射線螢光光譜儀被廣泛的套用於岩石,礦物及地球化學勘察樣品中40餘種常,次,微量元素的測定,測定範圍為0.000X%~100%,可用於無損檢測。
X射線螢光光譜岩芯掃描系統 X射線螢光光譜岩芯掃描系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年5月1日啟用。技術指標 MSCL-XRF。主要功能 科研用,測試樣品各項參數。
原則上,最輕的元素,可分析出鈹(z=4),但由於儀器的局限性和輕元素的低X射線產量,往往難以量化,所以針對能量分散式的X射線螢光光譜儀,可以分析從輕元素的鈉(z=11)到鈾,而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。
X-螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2009年5月1日啟用。技術指標 檢測元素範圍:O~U (Be~N需另外配置分光晶體);測量範圍ppm~100%;檢測器:流氣正比探測器和閃爍探測器;長期穩定性:0.04%。主...
因此,只要測出螢光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是螢光X射線定性分析的基礎。此外,螢光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關係,據此,可以進行元素定量分析。編輯本段 主要用途 X螢光光譜儀根據各元素的特徵X射線的...
X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年5月1日啟用。技術指標 懸浮顆粒物過濾器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法醫及痕量分析 營養補充劑 磁性介質和半導體 土壤污染 過濾...
1次X射線濾光片 除去X射線光管的特徵X射線光譜, 在減低背景干擾方面發揮威力。 定點分析 100µm的Mapping解析度。可在CCD圖像 上指定點、區域、線。定點最小直徑500µm。 採用r-θ樣品台,避免1次X射線的照射面、以及分光晶體...
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年4月1日啟用。技術指標 X射線管 4KW薄窗,Rh靶,管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-300°/min,定位重現性±...
X射線螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年12月1日啟用。技術指標 X射線光管陽極材料:銠靶 最大功率:4kW 最大額定電壓:60kV 最大額定電流:160mA 樣品最大尺寸:直徑51.5mm,高40mm 分析腔體溫度:30±0.05℃...
X螢光光譜分析儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2011年5月6日啟用。技術指標 元素範圍:Be4—U92 含量範圍:0.0001%—100% 最大功率≥4kW;最大電壓≥60kV,20-60 kV間1 kV連續可調 最大電流≥170mA , 5...
能量型X射線螢光光譜儀 能量型X射線螢光光譜儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年7月31日啟用。技術指標 分析範圍:Na11-U92,檢測範圍:0.001-100%。主要功能 元素成分分析。
能量色散X-射線螢光光譜儀 能量色散X-射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年12月3日啟用。技術指標 元素C~U(除惰性氣體)。主要功能 材料成分的能譜定性定量分析。
波長色散式X射線螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2012年10月23日啟用。技術指標 布拉格角範圍:13到98度28波 分析晶體:氟化鋰200,可選其他晶體 元素範圍:Kα 22-48(鈦到銀) 元素範圍:Lα 56-...
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術,更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀,業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...