X-射線螢光光譜儀

X-射線螢光光譜儀

X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。

基本介紹

  • 中文名:X-射線螢光光譜儀
  • 產地:日本
  • 學科領域:物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術
  • 啟用日期:2013年5月5日
  • 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 圓二色光譜儀
技術指標,主要功能,

技術指標

X射線管靶: 銠靶(Rh) X射線管壓: 60KV(Max) X射線管壓: 150mA(Max)檢測元素範圍:19F~92U 檢測濃度範圍:地犁10-6~100% 最小分析微區:直徑250μm。

主要功能

電子、磁性材料領域用來研究挨鞏祝半導體、磁光碟、磁性材料、電池、線路板、電容囂等; 化夜舟立重學工業領域中可用來研究無機、有機製品、化學纖維 催化劑、塗料、顏料、藥品 墊霸諒槓、化妝品、洗滌劑、橡膠、調色劑等成分 鋼鐵、有擊料雄色金屬工業領域中可用來研究和探姜燥測定各種合金成分; 陶瓷、水泥工業中可用來測定水泥、水泥原料、陶瓷、熟料、石灰石、粘土、踏迎殼玻璃、耐火材料、岩石等;   農業、食品工業中可用來檢測中土壤、肥料、植物、食品等。

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