能量型X射線螢光光譜儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年7月31日啟用。
能量型X射線螢光光譜儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年7月31日啟用。
能量色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年2月28日啟用。技術指標 1 ※設備為手持式X射線螢光光譜儀,採用45kV Rh靶X射線管作為激發源,最大管電流50uA,具有高分辯矽漂移(SDD)探測器; 2 具有5位置濾光片...
能量型X射線螢光光譜儀 能量型X射線螢光光譜儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年7月31日啟用。技術指標 分析範圍:Na11-U92,檢測範圍:0.001-100%。主要功能 元素成分分析。
能量色散X射線螢光光譜儀是使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統的光譜儀。工作原理 能量色散x射線螢光光譜儀energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光...
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
本書系統介紹了能量色散X射線螢光光譜分析所涉及的基礎知識、探測器和激發源、不同類型(包括微束全聚焦、全反射等)譜儀的結構、譜處理技術、基體效應及校正、定性、半定量和定量分析測試技術、薄試樣分析、樣品製備、不確定度評定和標準...
能量色散型X螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2000年11月14日啟用。技術指標 元素範圍:Na-U; 濃度:亞ppm-100%; X射線管:50w; 陽極:銠靶; 最大電壓:60KV; 最大電流:2mA。 準直器:直徑1.0mm 3.5mm ...
能量色散偏振X射線螢光光譜儀是一種用於化學、礦山工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年9月15日啟用。技術指標 X光管功率:50W 高壓:60KV 分析含量範圍:ppm(亞ppb)級-100% 檢測系統-能量解析度小於或等於155...
能量色散x射線螢光光譜法nergy-dispersive x-raylZuorescence spectrometry根據元素輻射x射線螢光光子能量不同,經探測器接收後用脈衝高度分析器區別,進行元素鑑定;根據分析線脈衝高度分布的積分強度.進行元素定量的分析方法。套用 適用於原子...
能量色散X-射線螢光光譜儀 能量色散X-射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年12月3日啟用。技術指標 元素C~U(除惰性氣體)。主要功能 材料成分的能譜定性定量分析。
能量色散X螢光光譜儀是一種用於材料科學、考古學領域的分析儀器,於2008年09月01日啟用。技術指標 樣品室尺寸:700mm*700mm*700mm X光管最大功率:50KV,1.0mA 光斑尺寸:300um。主要功能 陶瓷及原料化學組成檢測。
EDX,全稱:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy,能量色散X射線光譜儀 作用 EDX是藉助於分析試樣發出的元素特徵X射線波長和強度實現的, 根據不同元素特徵X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試...
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%; 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
能量色散型X射線螢光儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2016年12月22日啟用。技術指標 重複性:0.001% 能量解析度:135eV 分析含量範圍:ppm-100% 元素分析範圍:Na-U(標準XFlash探測器); C ...
能量色散型X螢光光譜議是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2011年10月15日啟用。技術指標 1.測定範圍:13Al-92U 2.樣品室尺寸:最大W370mm×D321mm×H155mm 3.一次濾光片 5種+OPEN自動交換。主要功能 分析金屬元素,快速簡單地...
能量色散X射線螢光儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2013年12月30日啟用。技術指標 元素範圍:鈉11-鈾92;濃度:ppm-100%。主要功能 X射線螢光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,可以測固體、粉末、液體及晶質、非晶質等...
根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀...
能量色散X射線螢光光譜採用脈衝高度分析器將不同能量的脈衝分開並測量。能量色散X射線螢光光譜儀可分為具有高解析度的光譜儀,解析度較低的攜帶型光譜儀,和介於兩者之間的台式光譜儀。高解析度光譜儀通常採用液氮冷卻的半導體探測器,如Si(...
4、逃逸峰:由於採用的是Si針半導體探測器,因此當X射線螢光在通過探測器的時候,如果某種元素 的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的機率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒;角度準確度優於±0.001°,角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測,具有...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。技術指標 X射線管靶: 銠靶(Rh) X射線管壓: 60KV(Max) X射線管壓: 150mA(Max)檢測元素範圍:19F...
能量色散偏振光X螢光光譜儀 能量色散偏振光X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2007年10月5日啟用。技術指標 檢出限 主要功能 無損樣品分析,標物均勻性檢驗.。
小焦點能量色散X射線螢光光譜儀 小焦點能量色散X射線螢光光譜儀是一種用於化學、工程與技術科學基礎學科、自然科學相關工程與技術、礦山工程技術領域的分析儀器,於2016年1月25日啟用。技術指標 RSD:主要功能 岩礦鑑定。
因此,只要測出螢光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是螢光X射線定性分析的基礎。此外,螢光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關係,據此,可以進行元素定量分析。主要用途 X螢光光譜儀根據各元素的特徵X射線的強度,可以 ...
能量色散螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、能源科學技術領域的分析儀器,於2010年4月1日啟用。技術指標 1 X射線發生器: 管靶-Rh標配;電壓範圍4-50 kV;濾光片:七個濾光片+直接激發;2 基本性能:穩定性RSC0.3%,8h;靈敏度...
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器,於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW,穩定度±0.0005%,測角儀角度準確度≤±0.001°;角度重複性≤±0.0001°分光晶體:LiF(200),PET,XS55,LiF(220),Ge晶體,測試...
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年4月1日啟用。技術指標 X射線管 4KW薄窗,Rh靶,管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-300°/min,定位重現性±...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以對5B到92U進行快速定性、定量分析,元素的檢量範圍0.0001%~...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍:Al~U(靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外) 濃度範圍:10-9~100% 檢出限:Ni≤2pg 激發源:最大功率≥30W;最大激發...
其能量等於原子內殼層電子的能級差,即原子特定的電子層間躍遷能量。只要測出一系列X射線螢光譜線的波長,即能確定元素的種類;測得譜線強度並與標準樣品比較,即可確定該元素的含量。由此建立了X射線螢光光譜 (XRF)分析法。簡介 是介於...
多道同時分析型X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年11月11日啟用。技術指標 用於入廠原輔材料檢驗;建有10條常用工作曲線;B(5)-U(92)大部分元素0.000x%--100%;2θ角準確度0.0025°;2θ角重複性0....