能量色散型X射線螢光儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2016年12月22日啟用。
ROHS Validator 能量色散型X射線螢光分析儀——高靈敏度高精度測定有害物質 最先進儀器 第三代3DFAMILY X射線螢光分析儀來自於中國，採用世界上最先進的矽SIPIN探測器（解析度為150ev），實現了無液態氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，最大程度地縮小了X射線源與被測物體的...
能量色散型X射線螢光儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2016年12月22日啟用。技術指標 重複性：0.001% 能量解析度：135eV 分析含量範圍：ppm-100% 元素分析範圍：Na-U(標準XFlash探測器)； C – U(LE XFlash探測器)。主要功能 高靈敏度高精度測定有害物質的儀器。
能量色散X射線螢光儀 能量色散X射線螢光儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2013年12月30日啟用。技術指標 元素範圍:鈉11-鈾92；濃度:ppm-100%。主要功能 X射線螢光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，可以測固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質元素含量。
能量色散X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2011年11月10日啟用。技術指標 檢測項目：適用於金屬、化工、石油、土壤、礦石元素分析，滿足固體、液體、粉末、 水質及油類等形態樣品中的多種無機元素的定性、半定量和定量分析。滿足鍍層和薄膜厚度的測定。用於科研製標工作。 檢測商品：金屬、化工...
能量色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年2月28日啟用。技術指標 1 ※設備為手持式X射線螢光光譜儀，採用45kV Rh靶X射線管作為激發源，最大管電流50uA,具有高分辯矽漂移(SDD)探測器； 2 具有5位置濾光片自動切換功能，以保證分析精度。 3 對各種樣品進行快速準確的分析，包括大樣品，...
EDX，全稱:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy，能量色散X射線光譜儀 作用 EDX是藉助於分析試樣發出的元素特徵X射線波長和強度實現的， 根據不同元素特徵X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結合電子顯微鏡使用，可以對樣品進行微區成分分析。套用 常用...
因此，X射線螢光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。為了滿足現代企業管理和生產要求，必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制，傳統的化學分析方法已經不能完全滿足生產過程的需要。目前眾多新型冶煉企業為了達到良好的質量控制指標，大都配備了相應的分析儀。由於...
能量色散型X螢光貴金屬成分分析儀是一種用於地球科學、農學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2020年6月27日啟用。技術指標 1.元素分析範圍：硫（S）~鈾（U）；2.分析檢出限：1ppm；3.分析含量：ppm~99.99%；4.溫度適應範圍：15°C~30°C；5.電源：交流220V±5V，建議配置交流淨化穩壓電源；6...
《能量色散X射線螢光光譜儀主要性能測試方法》是2015年9月1日實施的一項中國國家標準。編制進程 2015年2月4日，《能量色散X射線螢光光譜儀主要性能測試方法》發布。2015年9月1日，《能量色散X射線螢光光譜儀主要性能測試方法》實施。起草工作 主要起草單位：四川材料與工藝研究所、江蘇天瑞儀器股份有限公司、成都理工...
能量色散X射線螢光光譜採用脈衝高度分析器將不同能量的脈衝分開並測量。能量色散X射線螢光光譜儀可分為具有高解析度的光譜儀，解析度較低的攜帶型光譜儀，和介於兩者之間的台式光譜儀。高解析度光譜儀通常採用液氮冷卻的半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨攜帶型光譜儀常常採用正比計數器或閃爍計數器為探測...
根據色散方式不同，X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀（波長色散）和X射線螢光能譜儀（能量色散）。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特徵X射線（X光螢光）而進行物質成分...
液體樣品等都可以進行分析。缺點 （a） 定量分析需要標樣。（b）對輕元素的靈敏度要低一些。（c）容易受元素相互干擾和疊加峰影響。分類 X螢光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。以X螢光的波粒二象性中波長特徵為原理的稱為波長色散型，以能量特徵為原理的稱為能量色散型。
能量型X射線螢光光譜儀 能量型X射線螢光光譜儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2015年7月31日啟用。技術指標 分析範圍：Na11-U92，檢測範圍：0.001-100%。主要功能 元素成分分析。
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發源，分光系統，探測器系統，真空系統和...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒；角度準確度優於±0.001°，角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測，具有選擇性好、方法簡便、分析速度快、準確度高的特點，可保證產品質量。
根據產生的螢光X射線的強度，就能定量地求出各元素含量，就是是螢光X射線定量分析的基礎。X射線螢光光譜儀，根據分光原理，可以分為波長色散型和能量色散型兩種基本類型。波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、探測器和計數系統幾個部分組成。而能量色散型X射線螢光光譜儀則用解析度較高的...
（e）分析精密度高。 （f）制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。 缺點：（a）難於作絕對分析，故定量分析需要標樣。 （b）對輕元素的靈敏度要低一些。 （c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。 X螢光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。
《能量色散X射線螢光光譜》是2011年8月科學出版社出版的圖書，作者是吉昂、卓尚軍、李國會。內容簡介 本書系統介紹了能量色散X射線螢光光譜分析所涉及的基礎知識、探測器和激發源、不同類型（包括微束全聚焦、全反射等）譜儀的結構、譜處理技術、基體效應及校正、定性、半定量和定量分析測試技術、薄試樣分析、樣品...
第五章 X螢光光譜儀 第一節 波長色散X射線螢光光譜儀 一、X射線光管、探測器與光譜儀結構 二、分光晶體及解析度 三、脈衝放大器和脈高分析器 第二節 能量色散X射線螢光光譜儀 第三節 同位素源激發X射線螢光光譜儀 第四節 偏振激發X射線螢光光譜儀 第五節 全反射X射線螢光光譜儀 第六節 同步輻射X射線...
儀器 X射線螢光分析儀（見彩圖）主要由激發、色散（波長和能量色散）、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處，但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上，兩類儀器也有顯著的區別。X射線螢光分析儀按其性能和套用範圍，可分為實驗室用的...
利用X螢光（EDXRF）分析方法，具有對古代瓷器無損傷的特點，比起其他需要在器物上取下一定量的樣品進行物理、化學分析的方法更容易被人們所接受。其檢測速度快，二至五分鐘即可出結果，檢測準確率高。20世紀90年代隨著計算機技術等各類硬體水平的不斷提高，能量色散型X射線螢光分析儀在定量分析、樣品靶室體積等方面有了...
微區X螢光光譜儀 微區X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2015年7月1日啟用。技術指標 樣品台行程：270 mm x 270 mm x 100 mm，承載5 kg樣品台精度： ±2 μm（XY軸）， ±10 μm（Z軸）；10倍率和70倍率CCD放大。主要功能 主要套用於物質巨觀和微區元素成分定性與定量分析。
X射線螢光錄井簡稱XRF（X Radial Fluorescence）錄井。X射線螢光錄井根據螢光X射線的波長（能量）和強度對被測樣品中元素進行定性和定量分析, 它以計數率即螢光強度為縱坐標，以脈衝幅度即通道號，或X光子能量為橫坐標，得到能量色散型儀器的螢光光譜圖。X射線螢光分析原理：XRF分析是由X射線管發出的一次X射線，當施加...
RoHS檢測儀有很多種，價格也不等，但都比較貴，只有大的檢測中心和大型的公司有。目前很多專門機構都提供ROHS檢測的服務。技術原理 RoHS檢測儀目前市場上常見的類型是X射線螢光分析儀，又分為能量色散型和波長色散型，能量色散型因其技術原理及結構比波長色散型簡單，現市場上比較常見，其技術原理：特徵X射線 放射性...
由於X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線螢光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。兩種類型的X射線螢光光譜儀都需要用X射線管作為激發光源。攜帶型礦石品位快速檢測儀是一種能量色散的光譜儀。能量色散譜儀是利用螢光X射線具有不同能量的特點，將其分開並檢測，不必使用分光晶體，而是依靠半導體...
