基本介紹
- 中文名:能量色散X射線螢光光譜技術
- 類型:光譜技術
能量色散X射線螢光光譜採用脈衝高度分析器將不同能量的脈衝分開並測量。能量色散X射線螢光光譜儀可分為具有高解析度的光譜儀,解析度較低的攜帶型光譜儀,和介於兩者之間的台式光譜儀。高解析度光譜儀通常採用液氮冷卻的半導體探測器,...
根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特徵X射線(X光螢光)而進行物質成分...
能量色散x射線螢光光譜法energy-dispersive x-raylZuorescence spectrometry根據元素輻射x射線螢光光子能量不同,經探測器接收後用脈衝高度分析器區別,進行元素鑑定;根據分析線脈衝高度分布的積分強度.進行元素定量的分析方法。套用 適用於原子序數6(碳)以上各元素的分析。靈敏度和精密度比波長色散x射線螢光光譜法低一個...
EDX,全稱:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy,能量色散X射線光譜儀 作用 EDX是藉助於分析試樣發出的元素特徵X射線波長和強度實現的, 根據不同元素特徵X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結合電子顯微鏡使用,可以對樣品進行微區成分分析。套用 常用...
X射線螢光分析儀(見彩圖)主要由激發、色散(波長和能量色散)、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處,但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上,兩類儀器也有顯著的區別。X射線螢光分析儀按其性能和套用範圍,可分為實驗室用的X射線...
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然後,儀器軟體將探測系統...
x-ray flu-orexence spectromet。利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光光譜儀相比,它的結構簡單。可使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統。採用半導體探測器和多道脈衝高度分析器可提高分辨本領,由微處理機處理,可同時惻定試樣中}o一sn種元素,分析速度快。
能量色散X螢光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2015年4月13日啟用。技術指標 1、套用分析元素範圍: Na – U 具有一次采譜選擇多達8種的分析條件,可分別或同時設定,最佳化不同能量段元素的采譜條件。並可合併計算給出多元素同時分析的定量結果。分析元素的濃度範圍:100% --- ppm 2.高效端窗發射X-光...
按激發、色散和探測方法的不同,X螢光分析技術可分為X射線光譜法(即利用波長色散)和X射線能譜法(即利用能量色散)、特點 1.分析速度快,通常每個元素分析測量時間在2~lOOs之內即可完成。2.非破壞性,X射線螢光分析對樣品是非破壞性測定,使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品...
《能量色散X射線螢光光譜》是2011年8月科學出版社出版的圖書,作者是吉昂、卓尚軍、李國會。內容簡介 本書系統介紹了能量色散X射線螢光光譜分析所涉及的基礎知識、探測器和激發源、不同類型(包括微束全聚焦、全反射等)譜儀的結構、譜處理技術、基體效應及校正、定性、半定量和定量分析測試技術、薄試樣分析、樣品...
能量色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年2月28日啟用。技術指標 1 ※設備為手持式X射線螢光光譜儀,採用45kV Rh靶X射線管作為激發源,最大管電流50uA,具有高分辯矽漂移(SDD)探測器; 2 具有5位置濾光片自動切換功能,以保證分析精度。 3 對各種樣品進行快速準確的分析,包括大樣品,...
《稻穀及其製品中鎘的快速測定能量色散X射線螢光光譜法》是2017年12月01日實施的一項行業標準。起草人 肖有玉、周駿貴、李強、張輝、賈濤、吳靈敏、夏鵡、譚攀、孫晶瑋、傅曉春、高瑞峰、王辰 起草單位 南京市產品質量監督檢驗院、江蘇天瑞儀器有限公司、江蘇省理化測試中心、江蘇省農產品質量檢驗測試中心、南京市...
值減去Si能量值的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。D, 自動追蹤譜圖漂移 在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。定量分析 A,FP基礎參數法 B,標準法 C,1點校正 主要技術指標 分析原理 能量色散X射線螢光分析法 分析元素 Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)Na~U(任選:φ1....
發布。2015年9月1日,《能量色散X射線螢光光譜儀主要性能測試方法》實施。起草工作 主要起草單位:四川材料與工藝研究所、江蘇天瑞儀器股份有限公司、成都理工大學、核工業標準化研究所、中國工程物理研究院、江西納優科技有限公司。主要起草人:楊明太、方方、吳倫強、肖晨等。
能量色散型X螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2000年11月14日啟用。技術指標 元素範圍:Na-U; 濃度:亞ppm-100%; X射線管:50w; 陽極:銠靶; 最大電壓:60KV; 最大電流:2mA。 準直器:直徑1.0mm 3.5mm 7.0mm; 檢測器:電致冷Si(Li);解析度:165ev。主要功能 無損、快速地對...
隨著電子技術和計算機的飛速發展,x 射線螢光光譜儀和X 射線螢光分析技術及其計算機軟體的不斷開發,X 射線螢光光譜儀現已由單一的波長色散 X 射線螢光光譜儀發展成擁有波長色散、能量色散、電子探針、全反射、同步輻射和質子 X 射線光譜儀等一大家族。國產化之路 我國X射線螢光光譜分析技術的建立始於20世紀50年代末和...
能量色散X射線螢光儀 能量色散X射線螢光儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2013年12月30日啟用。技術指標 元素範圍:鈉11-鈾92;濃度:ppm-100%。主要功能 X射線螢光光譜跟樣品的化學結合狀態無關,可以測固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質元素含量。
能量色散偏振X射線螢光光譜儀是一種用於化學、礦山工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年9月15日啟用。技術指標 X光管功率:50W 高壓:60KV 分析含量範圍:ppm(亞ppb)級-100% 檢測系統-能量解析度小於或等於155電子伏特 可分析壓片及粉末樣品元素:Na,Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Ti,V,Cr...
汽油中硫含量測定法(能量色散X射線螢光光譜法)《汽油中硫含量測定法(能量色散X射線螢光光譜法)》是2004年4月30日實施的一項行業標準。起草人 王輝、談佳駒。起草單位 中國石油化工股份有限公司潤滑油研究開發中心。
能量色散型X螢光光譜議是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2011年10月15日啟用。技術指標 1.測定範圍:13Al-92U 2.樣品室尺寸:最大W370mm×D321mm×H155mm 3.一次濾光片 5種+OPEN自動交換。主要功能 分析金屬元素,快速簡單地測定鎘(Cd)、鉛(Pb)、汞(Hg)、總鉻(Cr)、總溴(Br)、氯(Cl)、砷(As)...
光譜測金儀是俗名,專業的說法是X螢光光譜能量色散檢測儀,亦稱XRF,設備其分析方法,是具有一定能量解析度的X射線探測器同時探測樣品所發出的各種能量特徵X射線,探測器輸出信號幅度與接收到的X射線能量成正比,利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強度,對樣品進行定量,定性分析。此儀器是在貴金屬行業的最頂端的...
能量色散X螢光光譜儀 能量色散X螢光光譜儀是一種用於材料科學、考古學領域的分析儀器,於2008年09月01日啟用。技術指標 樣品室尺寸:700mm*700mm*700mm X光管最大功率:50KV,1.0mA 光斑尺寸:300um。主要功能 陶瓷及原料化學組成檢測。
小焦點能量色散X射線螢光光譜儀是一種用於化學、工程與技術科學基礎學科、自然科學相關工程與技術、礦山工程技術領域的分析儀器,於2016年1月25日啟用。技術指標 RSD:<0.1% 能量解析度:小於160電子伏特 X光管功率:30W(Mo靶) 高壓:0-50KV 電流:0-0.8mA 最小分析樣品尺寸:1mm 分析室尺寸:520*310*160mm...
X射線螢光譜 X射線螢光譜(X-ray fluorescence spectroscopy)是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞。定義 利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種技術。從每種元素激發出的X射線特徵(螢光)譜線都有其特徵波長值,其峰值強度與該元素在材料中的含量有關。出處 《冶金學名詞》第二版 ...
工業黃磷中磷、砷的測定能量色散X射線螢光光譜法 《工業黃磷中磷、砷的測定能量色散X射線螢光光譜法》是2017年3月1日實施的一項行業標準。起草單位 雲南出入境檢驗檢疫局、西雙版納出入境檢驗檢疫局、普洱出入境檢驗檢疫局等。起草人 梁文君、呂平、劉鈞等。
能量色散型X射線螢光儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2016年12月22日啟用。技術指標 重複性:0.001% 能量解析度:135eV 分析含量範圍:ppm-100% 元素分析範圍:Na-U(標準XFlash探測器); C – U(LE XFlash探測器)。主要功能 高靈敏度高精度測定有害物質的儀器。
4、逃逸峰:由於採用的是Si針半導體探測器,因此當X射線螢光在通過探測器的時候,如果某種元素 的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的機率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。5、在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。技術參數 ...
X射線螢光能譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年6月9日啟用。技術指標 1 分析元素範圍:Na11~Bk97 2 能量解析度(Mn-Ka):優於140eV,在30,000cps下。嚴格依照ISO15632國際標準測量 3 可處理最大計數率:850,000CPS,最大輸出計數率>350,000CPS, 4 採用多級毛細管X射線聚焦,最小束斑達30um。 5...
能量色散偏振光X螢光光譜儀 能量色散偏振光X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2007年10月5日啟用。技術指標 檢出限<1PPM 精密度<1%。主要功能 無損樣品分析,標物均勻性檢驗.。
技術原理 RoHS檢測儀目前市場上常見的類型是X射線螢光分析儀,又分為能量色散型和波長色散型,能量色散型因其技術原理及結構比波長色散型簡單,現市場上比較常見,其技術原理:特徵X射線 放射性同位素源或X射線發生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用,逐出原子內層電子。當外層電子補充內層電子時,會...