能量色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年2月28日啟用。
基本介紹
- 中文名:能量色散型X射線螢光光譜儀
- 產地:美國
- 學科領域:化學
- 啟用日期:2017年2月28日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
能量色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年2月28日啟用。
能量色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年2月28日啟用。技術指標 1 ※設備為手持式X射線螢光光譜儀,採用45kV Rh靶X射線管作為激發源,最大管電流50uA,具有高分辯矽漂移(SDD)探測器; 2 具有5位置濾光片...
能量色散型X螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2000年11月14日啟用。技術指標 元素範圍:Na-U; 濃度:亞ppm-100%; X射線管:50w; 陽極:銠靶; 最大電壓:60KV; 最大電流:2mA。 準直器:直徑1.0mm 3.5mm...
EDX,全稱:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy,能量色散X射線光譜儀 作用 EDX是藉助於分析試樣發出的元素特徵X射線波長和強度實現的, 根據不同元素特徵X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中...
ROHS Validator 能量色散型X射線螢光分析儀——高靈敏度高精度測定有害物質 最先進儀器 第三代3DFAMILY X射線螢光分析儀來自於中國,採用世界上最先進的矽SIPIN探測器(解析度為150ev),實現了無液態氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備...
能量色散X螢光光譜儀是一種用於材料科學、考古學領域的分析儀器,於2008年09月01日啟用。技術指標 樣品室尺寸:700mm*700mm*700mm X光管最大功率:50KV,1.0mA 光斑尺寸:300um。主要功能 陶瓷及原料化學組成檢測。
(c)容易受元素相互干擾和疊加峰影響。分類 X螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。以X螢光的波粒二象性中波長特徵為原理的稱為波長色散型,以能量特徵為原理的稱為能量色散型。
根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀...
能量色散X射線螢光光譜儀可分為具有高解析度的光譜儀,解析度較低的攜帶型光譜儀,和介於兩者之間的台式光譜儀。高解析度光譜儀通常採用液氮冷卻的半導體探測器,如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨攜帶型光譜儀常常採用正比計數器或閃爍...
因此,X射線螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。為了滿足現代企業管理和生產要求,必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制,傳統的化學分析方法已經不能完全滿足生產過程的需要。
能量型X射線螢光光譜儀 能量型X射線螢光光譜儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年7月31日啟用。技術指標 分析範圍:Na11-U92,檢測範圍:0.001-100%。主要功能 元素成分分析。
台式能量色散偏振X射線螢光光譜儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2015年12月31日啟用。技術指標 鈀靶X射線管, 最大功率50W,最大電壓50kV ;能量解析度小於或等於160電子伏特;高強度高解析度電製冷高純矽漂移探測器...
《能量色散X射線螢光光譜儀主要性能測試方法》是2015年9月1日實施的一項中國國家標準。編制進程 2015年2月4日,《能量色散X射線螢光光譜儀主要性能測試方法》發布。2015年9月1日,《能量色散X射線螢光光譜儀主要性能測試方法》實施。起草...
偏振式能量色散型X射線螢光分析儀是一種用於生物學、自然科學相關工程與技術、工程與技術科學基礎學科領域的科學儀器,於2014年12月25日啟用。技術指標 激勵源 ?鈀(Pd)陽極X射線管 ?最大功率50W,最高電壓50kV ?二次靶標準配置為...
此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟體自動剝離重疊峰,確保了元素分析的正確性。4、逃逸峰:由於採用的是Si針半導體探測器,因此當X射線螢光在通過探測器的時候,如果某種元素 的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的機率也就越大。
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。技術指標 X射線管靶: 銠靶(Rh) X射線管壓: 60KV(Max) X射線管壓: 150mA(Max)檢測元素範圍:19F...
X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量色散型。波長色散型XRF光譜儀由X射線管激發源,分光系統,探測器系統,真空系統和氣流系統等部分組成。根據分析晶體的聚焦幾何條件不同,分為非聚焦...
波長色散型X射線螢光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、探測器和計數系統幾個部分組成。而能量色散型X射線螢光光譜儀則用解析度較高的半導體探測器和多道脈衝分析器代替晶體分光器和一般探測器。X射線螢光分析廣泛套用於鋼鐵、...
缺點:(a)難於作絕對分析,故定量分析需要標樣。 (b)對輕元素的靈敏度要低一些。 (c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。 X螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒;角度準確度優於±0.001°,角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測,具有...
第一章 X射線螢光光譜物理學基礎 第二章 激發和激發源 第三章 探測器 第四章 能量色散X射線螢光光譜儀結構 第五章 譜處理 第六章 基體效應 第七章 元素間吸收增強效應的校正 第八章 散射線在校正基體效應中的套用 第九章 定性...
分析原理 ROHS檢測儀就是X射線螢光光譜儀,其分析原理也就是X射線螢光光譜儀的分析原理。X射線螢光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線螢光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線螢光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光...