X射線螢光譜（X-ray fluorescence spectroscopy）是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞。
基本介紹
- 中文名：X射線螢光譜
- 外文名：X-ray fluorescence spectroscopy
- 所屬學科：冶金學
- 公布時間：2019年
定義,出處,
定義
利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種技術。從每種元素激發出的X射線特徵(螢光)譜線都有其特徵波長值，其峰值強度與該元素在材料中的含量有關。
出處
《冶金學名詞》第二版
X射線螢光譜
相關詞條
- X射線螢光譜
X射線螢光譜（X-ray fluorescence spectroscopy）是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞。定義利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種技術。從每種元素激發出的X射線特徵...
- X螢光光譜
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長...
- X射線螢光光譜分析(一種X射線分析)
X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特徵X射線（X光螢光）而進行物質成分分析和化學態研究。1948年由H.費里...
- X射線螢光光譜分析法
X射線螢光光譜分析法，利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面，X射線螢光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。簡史 20世紀20年代...
- 波長色散x射線螢光光譜法
波長色散x射線螢光光譜法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射線照射試樣激發產生各種波長的光，通過晶體衍射進行空間色散，分別測量不同波長的x射線分析線峰值強度，進行定性和定量分析的方法。適用於原子序數4(...
- X射線螢光光譜
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器，於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW，穩定度±0.0005%，測角儀角度準確度≤±0.001°；角度重複性≤±0.0001°分光晶體：LiF(200)，PET，XS55，LiF(220)，Ge晶體，測試範圍...
- X射線螢光譜法
X射線螢光譜法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種方法。從每種元素激發出的X射線特徵(螢光)譜線都有其特徵波長值，其峰值強度與該元素在材料中的含量有關。出處 《材料科學技術名詞...
- 順序式X射線螢光光譜
順序式X射線螢光光譜是一種用於物理學、化學、地球科學、生物學領域的分析儀器，於2004年1月1日啟用。技術指標 下照射，最大發射功率4.2KW。最大激發電壓：70KV，最大激發電流：140MA。可對固體、粉末樣品進行定性、定量分析（分析元素...
- X射線螢光光譜法
由此建立了X射線螢光光譜 (XRF)分析法。簡介 是介於原子發射光譜（AES）和原子吸收光譜（AAS）之間的光譜分析技術。基本原理 它的基本原理是基態原子（一般蒸汽狀態）吸收合適的特定頻率的輻射而被激發至高能態，而後激發過程中以光輻射的...
- 順序式X射線螢光光譜儀
順序式X射線螢光光譜儀，成份分析儀器，主要用於各種岩礦和建材的分析。主要用途 分析元素範圍：F-U;分析含量範圍：微量（ppm）一常量（%）主要用於各種岩礦和建材的分析，如：矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、...
- 波長色散X射線螢光光譜儀
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
- X射線螢光光譜儀(精密儀器)
X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
- X射線螢光分析儀
X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測...
- 能量色散X射線螢光光譜儀
能量色散X射線螢光光譜儀是使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統的光譜儀。工作原理 能量色散x射線螢光光譜儀energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光...
- X螢光分析儀
現代 X 射線螢光譜儀，無論是波長色散 X射線螢光光譜儀還是能量色散 X 射線螢光光譜儀均配置了樣品自動更換器。它採用條形碼 自動識別技術，用磁抓或真空吸盤裝置，自動更換樣品，完成全部設定樣品的測量。在一次分析中，最多可完成近百...
- X光螢光分析
1923年，瑞典的赫維西(G von Hevesy)提出了套用X射線螢光光譜進行定量分析，但由於受到當時探測技術水平的限制，該法並未得到實際套用，直到20世紀40年代後期，隨著X射線管、分光技術和半導體探測器技術的改進，X螢光分析技術才進入快速發展...
- 全反射X射線螢光光譜法
全反射X射線螢光光譜法（total reflection X-ray fluorescence spectrometry）是2016年公布的化學名詞。定義 初級X射線束以低於或接近於全反射臨界角投射到反射體經全反射後投射到樣品，激發分析元素髮射的特徵X射線螢光為垂直放置的Si(Li)...
- X射線螢光光譜分析(2003年5月科學出版社出版的圖書)
《X射線螢光光譜分析》是2003年科學出版社出版的圖書，作者是吉昂。簡介 本書為《中國科學院研究生教學叢書》之一。本書系統地介紹了X射線螢光光譜分析的理論、測試技術和實際套用，以及近年來的重要進展。書中重點論述了波長色散和能量...
- 螢光x射線分析(x射線發射光譜分析方法)
螢光x射線分析是x射線發射光譜分析方法之一。當試樣受到高能量的入射線轟擊時，其中各組分元素的原子受到激發而產生次級的特徵x射線，即為螢光x射線。簡介 螢光x射線分析即X射線螢光光譜分析，不同元素具有波長不同的特徵螢光x射線譜線，...
- 能量色散x射線螢光光譜法
能量色散x射線螢光光譜法energy-dispersive x-raylZuorescence spectrometry根據元素輻射x射線螢光光子能量不同，經探測器接收後用脈衝高度分析器區別，進行元素鑑定;根據分析線脈衝高度分布的積分強度.進行元素定量的分析方法。套用 適用於原子...
- 質子激發X射線螢光光譜法
質子激發X射線螢光光譜法 質子激發X射線螢光光譜法是2016年公布的化學名詞。 定義 用質子束為激發源產生誘導X射線螢光進行元素定性定量的光譜分析方法。 出處 《化學名詞》。
- X射線螢光光譜分析(第二版)
《X射線螢光光譜分析（第二版）》是2015年5月化學工業出版社出版的圖書，作者是羅立強、詹秀春、李國會。內容簡介 《X射線螢光光譜分析（第二版）》系統闡述了X射線螢光光譜分析（XRFS）基本原理，介紹了XRFS光譜儀及主要組成部件，特別...
- 能量色散X射線螢光光譜技術
能量色散X射線螢光光譜採用脈衝高度分析器將不同能量的脈衝分開並測量。能量色散X射線螢光光譜儀可分為具有高解析度的光譜儀，解析度較低的攜帶型光譜儀，和介於兩者之間的台式光譜儀。高解析度光譜儀通常採用液氮冷卻的半導體探測器，如Si(...
- 偏振激發X射線螢光光譜法
該項技術已套用於地學、環境、石油、化工等許多領域的分析。學科：岩礦分析與鑑定 詞目：偏振激發X射線螢光光譜法 英文：polarized energy Xһ dispersiveray fluorescence spectrometry(EDXRF)
- X射線螢光發射光譜儀
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
- X光譜計
原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由於儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線螢光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。
- X射線螢光光譜分析(2003年1月科學出版社出版的圖書)
本書系統地介紹了X射線螢光光譜分析的理論、測試技術和實際套用，以及近年來的重要進展。圖書目錄 前言 緒論 第一篇 X射線螢光光譜基本原理 第二篇 X射線螢光光譜儀的結構和性能 第三篇 X射線螢光光譜定性和定量分析 第四篇 樣品...
- X射線螢光光譜分析系統
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術，更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀，業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...
- X-射線螢光光譜儀
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年5月5日啟用。技術指標 Ｘ射線管靶： 銠靶（Rｈ） Ｘ射線管壓： 60ＫＶ（Ｍａｘ） Ｘ射線管壓： 150ｍA（Mａｘ）檢測元素範圍：19F...
