全反射X射線螢光光譜法

全反射X射線螢光光譜法(total reflection X-ray fluorescence spectrometry)是2016年公布的化學名詞。

基本介紹

  • 中文名:全反射X射線螢光光譜法
  • 外文名:total reflection X-ray fluorescence spectrometry
  • 所屬學科:化學
  • 公布時間:2016年
定義,出處,

定義

初級X射線束以低於或接近於全反射臨界角投射到反射體經全反射後投射到樣品,激發分析元素髮射的特徵X射線螢光為垂直放置的Si(Li)探測器所檢測,實現痕量元素的定性和定量分析的表面超痕量分析技術。

出處

《化學名詞》第二版。

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