《X射線螢光光譜分析》是2003年1月科學出版社出版的圖書,作者是吉昂。
基本介紹
- 書名:X射線螢光光譜分析
- 作者:吉昂
- 出版社:科學出版社
- 出版時間:2003年1月
- ISBN:9787030108685
圖書簡介
圖書目錄
- 前言
- 緒論
- 第一篇 X射線螢光光譜基本原理
- 第二篇 X射線螢光光譜儀的結構和性能
- 第三篇 X射線螢光光譜定性和定量分析
- 第四篇 樣品製備和不確定度評定
- 第五篇 化學計量學和化學態分析
- 附錄
《X射線螢光光譜分析》是2003年1月科學出版社出版的圖書,作者是吉昂。
根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀...
按激發、色散和探測方法的不同,X螢光分析技術可分為X射線光譜法(即利用波長色散)和X射線能譜法(即利用能量色散)、特點 1.分析速度快,通常每個元素分析測量時間在2~lOOs之內即可完成。2.非破壞性,X射線螢光分析對樣品是非破壞性...
螢光x射線分析即X射線螢光光譜分析,不同元素具有波長不同的特徵螢光x射線譜線,各譜線均強度又與元素的濃度呈一定關係,測定待測元素特徵螢光x射線譜線的波長和強度就可進行定性和定量分析。螢光x射線光譜分析,具有譜線簡單,分析速度快,...
X螢光光譜儀根據各元素的特徵X射線的強度,也可以獲得各元素的含量信息。 近年來,X螢光光譜分析在各行業套用範圍不斷拓展,已成為一種廣泛套用於冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域,特別是在RoHS檢測領域套用得最多...
X射線螢光分析法(X-ray fluorescence analysis),是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的螢光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得螢光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的...
《X射線螢光光譜分析》是2003年科學出版社出版的圖書,作者是吉昂。簡介 本書為《中國科學院研究生教學叢書》之一。本書系統地介紹了X射線螢光光譜分析的理論、測試技術和實際套用,以及近年來的重要進展。書中重點論述了波長色散和能量...
X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測,對產品和材料質量進行無損檢測,對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段,也是材料科學、生命科學、環境科學等普遍採用的一種快速、準確...
X射線螢光分析方法是一種現代光學分析方法。X射線照射物質時,除發生散射現象和吸收現象外,還能產生次級X射線,即螢光X射線。螢光X射線的波長只取決於物質中原子的種類。因此,根據螢光X射線的波長就可確定物質的元素組分;再根據該螢光X...
(1)全譜定性分析 驅動分光譜儀的晶體連續改變衍射角,記錄X射線信號強度隨波長的變化曲線。檢測譜線強度峰值位置的波長,既可獲得樣品微區內所含元素的定性結果。(2)定量分析 根據元素的特徵X射線強度與元素在樣品中的濃度成正比的...
順序式X射線螢光光譜是一種用於物理學、化學、地球科學、生物學領域的分析儀器,於2004年1月1日啟用。技術指標 下照射,最大發射功率4.2KW。最大激發電壓:70KV,最大激發電流:140MA。可對固體、粉末樣品進行定性、定量分析(分析元素...
波長色散x射線螢光光譜法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射線照射試樣激發產生各種波長的光,通過晶體衍射進行空間色散,分別測量不同波長的x射線分析線峰值強度,進行定性和定量分析的方法。適用於原子序數4(...
1896年法國物理學家喬治(G eorgs S)發現了X 射線螢光,1948年弗利德曼(Friedm an H )和伯克斯(]3irks L S)首先研製了第一台商品性的波長色散 X 射線螢光光譜儀以來,X 射線螢光光譜分析技術發展迅速。尤其是 2O 世紀 9O ...
X射線螢光譜(X-ray fluorescence spectroscopy)是2019年全國科學技術名詞審定委員會公布的冶金學名詞。定義 利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種技術。從每種元素激發出的X射線特徵(螢光)譜線都有其特徵波長值,其峰值強度與...
X射線螢光譜法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種方法。從每種元素激發出的X射線特徵(螢光)譜線都有其特徵波長值,其峰值強度與該元素在材料中的含量有關。出處 《材料科學技術名詞...
《X射線螢光光譜分析(第二版)》是2015年5月化學工業出版社出版的圖書,作者是羅立強、詹秀春、李國會。內容簡介 《X射線螢光光譜分析(第二版)》系統闡述了X射線螢光光譜分析(XRFS)基本原理,介紹了XRFS光譜儀及主要組成部件,特別...
本書系統地介紹了X射線螢光光譜分析的理論、測試技術和實際套用,以及近年來的重要進展。圖書目錄 前言 緒論 第一篇 X射線螢光光譜基本原理 第二篇 X射線螢光光譜儀的結構和性能 第三篇 X射線螢光光譜定性和定量分析 第四篇 樣品...
元素1的含量多,螢光X射線的強度就會變強。注意到這一點,如果預先知道已知濃度樣品的螢光X射線強度,就可以推算出樣品中元素1的含量。採用定量分析的時候,可以在樣品中加入高純度的二氧化矽,作為參比樣,並且摻量是已知的。這樣可以間接...
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器,於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW,穩定度±0.0005%,測角儀角度準確度≤±0.001°;角度重複性≤±0.0001°分光晶體:LiF(200),PET,XS55,LiF(220),Ge晶體,測試範圍...
進行元素定量的分析方法。套用 適用於原子序數6(碳)以上各元素的分析。靈敏度和精密度比波長色散x射線螢光光譜法低一個數量級。儀器使用簡單,所發射分析線強度利用率高,全部x射線光譜強度可同時累積,便於顯示。
利用原子受質子激發後產生的特徵 X射線的能量和強度來進行物質定性和定量分析的方法。簡稱質子 X射線螢光分析,英文縮寫為PIXE。質子X 射線螢光分析是20 世紀70 年代發展起來的一種多元素微量分析技術,其分析靈敏度可達10-16 克,相對...
質子激發X射線螢光光譜法 質子激發X射線螢光光譜法是2016年公布的化學名詞。 定義 用質子束為激發源產生誘導X射線螢光進行元素定性定量的光譜分析方法。 出處 《化學名詞》。
全反射X射線螢光光譜法(total reflection X-ray fluorescence spectrometry)是2016年公布的化學名詞。定義 初級X射線束以低於或接近於全反射臨界角投射到反射體經全反射後投射到樣品,激發分析元素髮射的特徵X射線螢光為垂直放置的Si(Li)...
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術,更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀,業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...
該項技術已套用於地學、環境、石油、化工等許多領域的分析。學科:岩礦分析與鑑定 詞目:偏振激發X射線螢光光譜法 英文:polarized energy Xһ dispersiveray fluorescence spectrometry(EDXRF)
螢光X射線光譜定量分析法,以及X射線能譜分析法等.對於國內外近年來的最新研究成就,也作了概括的介紹.此外,對於X射線吸收分析法和固體的X射線光譜學,也分別作了專門的論述.本書行文力求深入淺出、簡明易懂,以適應各類分析工作者...
能量色散X射線螢光光譜採用脈衝高度分析器將不同能量的脈衝分開並測量。能量色散X射線螢光光譜儀可分為具有高解析度的光譜儀,解析度較低的攜帶型光譜儀,和介於兩者之間的台式光譜儀。高解析度光譜儀通常採用液氮冷卻的半導體探測器,如Si(...
其中用於成分分析的X射線螢光法和用於結構分析的X射線衍射法套用較為廣泛。詞條詳細介紹了X射線以及X射線吸收法、X射線螢光法、X射線衍射法原理和套用。射線分析簡介 利用 X射線與物質間的互動作用來分析物質的結構、組織和成分的一種材料...
樣品被入射X射線激發產生的螢光X射線,經分光器色散後,由測角儀(θ)聯動裝置上的探測器(2θ),在不同方向(角度-2θ)上,對X射線螢光光譜進行譜線波長和強度測量,最終給出待測元素含量報告的X射線螢光光譜分析儀器。
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分...