X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。
基本介紹
- 中文名:X型射線螢光光譜儀
- 產地:德國
- 學科領域:材料科學、冶金工程技術
- 啟用日期:2012年9月30日
- 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 原子螢光光譜儀
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X螢光(二次X射線),探測器對X螢光進行檢測。中文名 X螢光光譜儀 外文名 X-ray Fluorescence Spectrometer(XRF) 類型 獲得...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。技術指標 X射線管靶: 銠靶(Rh) X射線管壓: 60KV(Max) X射線管壓: 150mA(Max)檢測元素範圍:19F...
因此,X射線螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。為了滿足現代企業管理和生產要求,必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制,傳統的化學分析方法已經不能完全滿足生產過程的需要。
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線),從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%; 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
高分辨雙晶X射線螢光光譜儀簡稱高分辨x射線光lR一種用兩個晶體進行分光的X射線螢光光譜儀。該光laI儀 店儀的待點是具有較高的解析度,可進行物質中元素的化學狀態分析:其原理與普通(一個晶體)的K射線螢光光譜儀相同。儀器由X射線發生...
X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2012年5月22日啟用。技術指標 可分析F-U間元素:常量(%)-微量(ppmm),精密度(主、次量元素)RSD%:0.1-1.0。計數線性:SC為1500kcps,FPC為3000kcps。動態長期穩定性:0....
第一節波長色散型X射線螢光光譜儀的特性與技術進展153 第二節X射線高壓發生器154 第三節X射線光管特性與選擇使用154 第四節濾光片、狹縫和準直器156 第五節晶體適用範圍及其選擇157 第六節2θ聯動裝置161 第七節測角儀161 第八節...
X射線螢光光譜儀32SA X射線螢光光譜儀32SA是一種用於化學領域的分析儀器,於2011年7月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%;設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
1 類型:順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀; 2 元素分析範圍:氧(8)—鈾(92); 3 濃度範圍從ppm到主含量; 4 長期動態綜合穩定性:≤0.05%;。主要功能 用於固體、粉末、薄材等材料及特殊不規則小樣品或少量樣品檢測,能快速...
日本理學X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月1日啟用。技術指標 2θ角15°193°,RSD 主要功能 金屬材料/陶瓷/玻璃/土壤/礦物中的元素定性可測元素B~U範圍內的所有元素。RSD<1%,最大功率4KW,微區分析...
能量型X射線螢光光譜儀 能量型X射線螢光光譜儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年7月31日啟用。技術指標 分析範圍:Na11-U92,檢測範圍:0.001-100%。主要功能 元素成分分析。
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器,配0.23°,0.46°兩個準直器; 自動進樣器:60位X-Y二維全自動機器人進樣器; 高壓發生器: 穩定性:外電源波動±1%...
連續雷射激發穩態瞬態螢光光譜儀 連續雷射激發穩態瞬態螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2016年11月7日啟用。技術指標 FLS980。主要功能 連續雷射激發穩態瞬態螢光光譜儀。
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年4月1日啟用。技術指標 X射線管 4KW薄窗,Rh靶,管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-300°/min,定位重現性±...
大腔體X射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2005年12月01日啟用。技術指標 Rh靶材,直接激發,對固體塊狀、粉末、液體、溶液直接測試,輸出管電壓5~50 kV,可做1 kV多段任意調整,探測器使用液氮冷卻,...
波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、食品科學技術領域的分析儀器,於2008年12月23日啟用。技術指標 最大功率3.6KV;0~60KV間,1KV連續可調;高壓發生器輸出穩定度±0.0001%;12位自動進樣器;下照式,六塊晶體。主要功能 ...
單波長色散X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2016年10月28日啟用。技術指標 符合ASTM 7039,GB/T 11140和SH/T 0842標準要求,硫重複性0.8 ppm (2ppm), 1.8 ppm (10ppm), 12.4 ppm (500ppm); 檢測範圍0....
多道X射線螢光光譜儀是一種用於交通運輸工程領域的分析儀器,於2011年12月13日啟用。技術指標 可同時無損分析36種元素,分析範圍4Be~92U。主要功能 能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量,具有靈敏度高、精度好、性能穩定、分析...
全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器,於2006年4月15日啟用。技術指標 Cu Kα強度827Kcps Al Kα強度712Kcps RSD=0.024% PR=0.12% Sc=45.1% Pc=31.2%。主要功能 電子和磁性材料、化學工業...
X射線螢光光譜儀制樣設備 X射線螢光光譜儀制樣設備是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2016年11月18日啟用。技術指標 40噸壓片機和六頭電熱熔融爐。主要功能 樣品製備。
順序掃描式X射線螢光光譜儀 順序掃描式X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2018年12月12日啟用。技術指標 ARL Perform”X4200。主要功能 主量元素分析,分析元素範圍從Be到U,誤差5%。
能量色散X射線螢光光譜儀是使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統的光譜儀。工作原理 能量色散x射線螢光光譜儀energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍:Al~U(靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外) 濃度範圍:10-9~100% 檢出限:Ni≤2pg 激發源:最大功率≥30W;最大激發...
順序式X射線螢光光譜儀,成份分析儀器,主要用於各種岩礦和建材的分析。主要用途 分析元素範圍:F-U;分析含量範圍:微量(ppm)一常量(%)主要用於各種岩礦和建材的分析,如:矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、...