順序掃描式X射線螢光光譜儀

順序掃描式X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2018年12月12日啟用。

基本介紹

• 中文名：順序掃描式X射線螢光光譜儀
• 產地：中國
• 學科領域：地球科學
• 啟用日期：2018年12月12日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 原子螢光光譜儀

技術指標

ARL Perform”X4200。

主要功能

主量元素分析，分析元素範圍從Be到U，誤差5%。