掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年4月1日啟用。
螢光光譜儀簡介 結構 由光源、激發光源、發射光源、試樣池、檢測器、顯示裝置等組成。分類 螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光（波長和能量）掃描光譜 3.3D（Ex Em Intensity）4.Time Base和CWA（固定波長單點測量）5.螢光壽命測量，包括...
X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，...
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X螢光（二次X射線），探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來...
4、逃逸峰：由於採用的是Si針半導體探測器，因此當X射線螢光在通過探測器的時候，如果某種元素 的含量較高或者能量較高，其被Si吸收的機率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峰，此峰即為逃逸峰。5、在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。技術參數 ...
岩芯掃描X螢光光譜儀 岩芯掃描X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2012年3月8日啟用。技術指標 可測量長度：小於等於1750mm，口徑介於30-120mm，最高測量解析度0.1mm，可測量元素範圍：Al-U之間的108種元素。主要功能 掃描岩芯中化學元素成分，並對元素成分進行定性、半定量分析。
因此，X射線螢光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WDEXRF）和能量色散型（EDXRF）。為了滿足現代企業管理和生產要求，必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制，傳統的化學分析方法已經不能完全滿足生產過程的需要。目前眾多新型冶煉企業為了達到良好的質量控制指標，大都配備了相應的分析儀。由於...
螢光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線螢光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線螢光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線螢光分析儀。從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都...
X螢光光譜儀EDX1800B是眾和儀器最新推出，針對EDX1800B在各個領域的廣泛套用。性能優勢 下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求 準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的套用 移動平台：精細的手動移動平台，方便定位測試點 高解析度探測器：提高分析的準確性 新一代的高壓電源...
X-螢光儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2012年5月30日啟用。技術指標 分析精度高。 可以對4Be到92U進行定性、定量分析。 元素的檢量範圍從0.0001% ~ 100%，如進行前處理，可以再下降2 ~ 3個數量級。 可以分析材料的狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。 對應超輕元素的X射線光管 採用4kW、30µm...
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器，於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%； 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差：Cd：7.7%；儀器測量重複性： Cd：1.5%；線性誤差的擴展不確定度：U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線譜，而各譜線的螢光強度又與元素的濃度呈一定關係，測定待測元素特徵X射線譜線的...
X射線螢光光譜儀Axiosmax是一種用於地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2016年11月2日啟用。技術指標 1.允許元素分析範圍：Be（4）－U（92） 2. 測角儀重現性：0.0001度。主要功能 （1）樣品中不同元素的定性、定量分析、以及半定量分析 （2）元素配位分析 （3）固體、粉末、熔珠、液體...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒；角度準確度優於±0.001°，角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測，具有選擇性好、方法簡便、分析速度快、準確度高的特點，可保證產品質量。
掃描X射線光譜儀 掃描X射線光譜儀是2003年公布的機械工程名詞。定義 能對其中不同波長的X射線光譜進行連續研究的X射光譜儀。出處 《機械工程名詞 第三分冊》。
X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2012年5月22日啟用。技術指標 可分析F-U間元素：常量(%)-微量(ppmm)，精密度(主、次量元素)RSD%:0.1-1.0。計數線性：SC為1500kcps，FPC為3000kcps。動態長期穩定性：0.04%；定位準確性：0.00025度；定位精度：0.0001度。主要功能 用於地質樣品...
全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年04月30日啟用。技術指標 1 類型：順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀； 2 元素分析範圍：氧(8)—鈾(92)； 3 濃度範圍從ppm到主含量； 4 長期動態綜合穩定性：≤0.05%；。主要功能 用於固體、粉末、薄材等材料及特殊不規則小樣品或少量樣品...
X-射線螢光岩芯掃瞄器是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2015年9月7日啟用。技術指標 彩色線性分析，曝光時間：10.0ms；元素組分分析：步長：0.1mm，1mm，2mm；磁化率測試：步長：2mm。主要功能 沉積物柱的彩色線性分析、磁化率及其元素組成測試；另外針對硨磲樣品進行彩色線性分析、元素組成測試。
x螢光岩心掃瞄器 x螢光岩心掃瞄器是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器，於2017年7月1日啟用。技術指標 一次掃描即可獲得 Mg 到U 之間的絕大部分的元素濃度。主要功能 1. 高解析度XRF 元素濃度； 2. 高清光學照相； 3. 點狀磁化率。
X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2015年5月1日啟用。技術指標 懸浮顆粒物過濾器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法醫及痕量分析 營養補充劑 磁性介質和半導體 土壤污染 過濾器上的薄膜 塑膠中的有毒元素。主要功能 出色的痕量分析靈敏度 高分析量的進程...
日本理學X螢光光譜儀 日本理學X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2004年12月1日啟用。技術指標 ２θ角１５°193°,RSD小於0.5%。主要功能 金屬材料／陶瓷／玻璃／土壤／礦物中的元素定性可測元素B～U範圍內的所有元素。RSD＜1%，最大功率4KW，微區分析面積0.5mm～10mm。
大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析範圍為Be到U。並且具有分析速度快、測量範圍寬、干擾小的特點。優缺點 優點：（a）分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 （b）X射線螢光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而...
主要使用X射線束激發螢光輻射，第一次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，並作為過程控制的工具，廣泛套用於採掘和加工工業。原則上，最輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由於儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線螢光光譜儀，可以...
X射線螢光發射光譜儀 用於測量螢光X射線的X射線光譜儀。
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
微區X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2017年12月28日啟用。技術指標 Rh靶，多毛細管X射線光學，可達到20μm大小（Mo-K）；30mm2矽漂移探測器（SDD），能量解析度 145eV（@300kcps）；倉體內部尺寸≥600mm*350mm*260mm；單點，多點，線和自定義（圓形，矩形，多邊形）掃描方式。主要功能 ...
X射線光電譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年4月27日啟用。技術指標 主工作室：規定真空度（烘烤除氣後）≤5×10-10mbar，極限真空度（烘烤除氣後）1.54×10-10mbar；進樣室：規定真空度（烘烤除氣後）≤5×10-8mbar，極限真空度（烘烤除氣後）3.00×10-8mbar；探測器參數：有效測量半徑150mm...
1ms到160s 發射檢測器 光電倍增管，200－850nm 參比檢測器 為穩定性精選的光電二極體。主要功能 研究DNA、蛋白質和病毒的動態、剛性以及結構信息；監視空氣、水、土壤中痕量有機、無機、有毒、致變和致癌物質；進行藥物分析、膽固醇、蛋白質、維生素和DNA等的分析；利用螢光失蹤劑技術研究動態的生物學過程等。
X射線螢光分析儀是通過X射線管產生的X射線作為雷射源，激發樣品產生螢光X射線。根據螢光X射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。簡介 該儀器通常能夠一次性檢測出多達25多種礦石及金屬元素，具體包括：Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, W, Pb, ...
