X射線螢光光譜儀制樣設備是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2016年11月18日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線螢光光譜儀制樣設備
- 產地:加拿大
- 學科領域:地球科學
- 啟用日期:2016年11月18日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器
X射線螢光光譜儀制樣設備是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2016年11月18日啟用。
X射線螢光光譜儀制樣設備 X射線螢光光譜儀制樣設備是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2016年11月18日啟用。技術指標 40噸壓片機和六頭電熱熔融爐。主要功能 樣品製備。
儀器國產化,也是各方關注的問題,早在1959年中科院地質研究所曾試製成功第一代單光路的平面晶體X射線螢光光譜儀。從1971年起,上海電子光學研究所等單位先後研製了兩種類型多道X射線螢光光譜儀。一是DXY1~DXY3等三種型號的全真空多光路...
X射線螢光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和...
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X螢光(二次X射線),探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的...
X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測...
X射線螢光分析儀是通過X射線管產生的X射線作為雷射源,激發樣品產生螢光X射線。根據螢光X射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。簡介 該儀器通常能夠一次性檢測出多達25多種礦石及金屬元素,具體包括:Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni,...
波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、食品科學技術領域的分析儀器,於2008年12月23日啟用。技術指標 最大功率3.6KV;0~60KV間,1KV連續可調;高壓發生器輸出穩定度±0.0001%;12位自動進樣器;下照式,六塊晶體。主要功能 ...
台式偏振X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2008年4月1日啟用。技術指標 X光管高壓發生器和射線管:50W. 電壓: 從0至50KV進行設定,穩定性好於0.02%; 電流: 從0至1 mA進行設定,穩定性好於0.02%。 能量色散...
微區X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2015年7月1日啟用。技術指標 樣品台行程:270 mm x 270 mm x 100 mm,承載5 kg樣品台精度: ±2 μm(XY軸), ±10 μm(Z軸);10倍率和70倍率CCD放大。主要功能 主要...
能量色散X射線螢光光譜儀是使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統的光譜儀。工作原理 能量色散x射線螢光光譜儀energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線),從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
日本理學X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月1日啟用。技術指標 2θ角15°193°,RSD小於0.5%。主要功能 金屬材料/陶瓷/玻璃/土壤/礦物中的元素定性可測元素B~U範圍內的所有元素。RSD<1%,最大功率4KW,...
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
X螢光光譜儀-Axios是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2012年5月22日啟用。技術指標 可分析F-U間元素:常量(%)-微量(ppmm),精密度(主、次量元素)RSD%:0.1-1.0。計數線性:SC為1500kcps,FPC為3000kcps。動態長期穩定性:0....
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒;角度準確度優於±0.001°,角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測,具有...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差:Cd:7.7%;儀器測量重複性: Cd:1.5%;線性誤差的擴展不確定度:U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
單波長色散X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2016年10月28日啟用。技術指標 符合ASTM 7039,GB/T 11140和SH/T 0842標準要求,硫重複性0.8 ppm (2ppm), 1.8 ppm (10ppm), 12.4 ppm (500ppm); 檢測範圍0....
利用X射線螢光分析原理對樣品中的元素進行定性、定量分析。可以對塊狀固體、壓型或鬆散粉末、熔融片、液體、金屬片、顆粒狀和薄膜樣品中含量>0.0001%的元素進行分析,適用於鋼鐵、有色金屬及稀土冶金、水泥、石化、地質、環境、生物、...
大腔體X射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2005年12月01日啟用。技術指標 Rh靶材,直接激發,對固體塊狀、粉末、液體、溶液直接測試,輸出管電壓5~50 kV,可做1 kV多段任意調整,探測器使用液氮冷卻,...
波長色散式X射線螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2012年10月23日啟用。技術指標 布拉格角範圍:13到98度28波 分析晶體:氟化鋰200,可選其他晶體 元素範圍:Kα 22-48(鈦到銀) 元素範圍:Lα 56-...
偏振型X射線螢光光譜儀 偏振型X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2011年10月24日啟用。技術指標 XEPOS偏振型X射線螢光光譜儀,滿足輕元素成分測定。主要功能 快速測定元素含量。
高分辨雙晶X射線螢光光譜儀簡稱高分辨x射線光lR一種用兩個晶體進行分光的X射線螢光光譜儀。該光laI儀 店儀的待點是具有較高的解析度,可進行物質中元素的化學狀態分析:其原理與普通(一個晶體)的K射線螢光光譜儀相同。儀器由X射線發生...
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術,更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀,業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...
順序式波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2009年3月16日啟用。技術指標 長期動態綜合穩定性:0.04%;晶體:彎晶,PX-10人工膜晶體;分析速度:每個元素...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍:Al~U(靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外) 濃度範圍:10-9~100% 檢出限:Ni≤2pg 激發源:最大功率≥30W;最大激發...
微區X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2017年12月28日啟用。技術指標 Rh靶,多毛細管X射線光學,可達到20μm大小(Mo-K);30mm2矽漂移探測器(SDD),能量解析度 145eV(@300kcps);倉體內部尺寸≥600mm*350...