偏振型X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2011年10月24日啟用。
基本介紹
- 中文名：偏振型X射線螢光光譜儀
- 產地：德國
- 學科領域：材料科學
- 啟用日期：2011年10月24日
- 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器
技術指標,主要功能,
技術指標
XEPOS偏振型X射線螢光光譜儀，滿足輕元素成分測定。
主要功能
快速測定元素含量。
偏振型X射線螢光光譜儀
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