X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年5月26日啟用。
X射線螢光分析儀誕生至今，已發展到第三代。X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線螢光光譜分析不僅成為對其物質的化學...
X射線螢光光譜儀（X-ray Fluorescence Spectrometer，簡稱：XRF光譜儀），是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分...
現代X射線螢光光譜分析儀由以下幾部分組成：X射線發生器（X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置）、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器）、記數記錄系統（脈衝輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器）。不同元素具有波長不同的...
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術，更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀，業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...
達到了國內領先水平。在內容與功能方面，它與本世紀八十年代末、九十年代初國際上X射線螢光光譜儀主要廠商推出的在線上自動分析系統是一致的，它附和當前國際上常規X射線螢光光譜分析的發展趨勢和要求，達到八十年代末期國際水平。
X射線螢光光譜儀92SA X射線螢光光譜儀92SA是一種用於化學領域的分析儀器，於2010年8月20日啟用。技術指標 設備精密度≤0.6%； 設備穩定性≤1.4%。主要功能 鋼鐵及其原材料的元素分析。
《X螢光光譜集成分析系統》是由地礦部岩礦測試研究所擔任第一完成單位，由應志春、鄧賽文、甘露、吳曉軍、梁國立擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 本課時為地質待業基金青年基金項目。旨在解決地質樣品中微量鹵素的測定難題。析...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差：Cd：7.7%；儀器測量重複性： Cd：1.5%；線性誤差的擴展不確定度：U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
X射線式螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年11月1日啟用。技術指標 S8 Tiger分析元素範圍：O8—U92 S8 Tiger分析含量範圍：0.1ppm到100% 高壓發生器： S8 Tiger最大功率≥4kW；最大電壓≥60kV，20-60 kV 間 1 ...
X射線螢光光譜分析法，利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生螢光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面，X射線螢光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。簡史 20世紀20年代...
3．X射線探測系統 國際領先的X射線探測系統,電製冷高解析度高計數率探測器：薄窗對Fe 5.9keV的X射線計數率為 1000CPS時的解析度為140eV。對輕元素Na、Mg、Al、Si、S等具有高靈敏度與解析度。4. 高級原裝能譜儀電子學系統 原裝...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年5月5日啟用。技術指標 Ｘ射線管靶： 銠靶（Rｈ） Ｘ射線管壓： 60ＫＶ（Ｍａｘ） Ｘ射線管壓： 150ｍA（Mａｘ）檢測元素範圍：19F...
X射線螢光光譜儀由以下幾部分組成：X射線發生器（X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置）、分光檢測系統（分析晶體、準直器與檢測器）、記數記錄系統（脈衝輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器）。不同元素具有波長不同的特徵X...
X螢光光譜分析儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2011年5月6日啟用。技術指標 元素範圍：Be4—U92 含量範圍：0.0001%—100% 最大功率≥4kW；最大電壓≥60kV，20-60 kV間1 kV連續可調 最大電流≥170mA , 5...
《X射線螢光光譜分析（第二版）》是2015年5月化學工業出版社出版的圖書，作者是羅立強、詹秀春、李國會。內容簡介 《X射線螢光光譜分析（第二版）》系統闡述了X射線螢光光譜分析（XRFS）基本原理，介紹了XRFS光譜儀及主要組成部件，特別...
多道X射線螢光光譜儀是一種用於交通運輸工程領域的分析儀器，於2011年12月13日啟用。技術指標 可同時無損分析36種元素，分析範圍4Be～92U。主要功能 能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量，具有靈敏度高、精度好、性能穩定、分析...
X射線螢光光譜岩芯掃描系統 X射線螢光光譜岩芯掃描系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年5月1日啟用。技術指標 MSCL-XRF。主要功能 科研用，測試樣品各項參數。
X射線螢光顯微分析儀 X射線螢光顯微分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2005年6月8日啟用。技術指標 分析元素Na-U，能量解析度FWHM 主要功能 材料分析，微區成分分析，光學圖像觀察，內部異物分析，圖像處理。
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器，於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW，穩定度±0.0005%，測角儀角度準確度≤±0.001°；角度重複性≤±0.0001°分光晶體：LiF(200)，PET，XS55，LiF(220)，Ge晶體，測試...
只要測出一系列X射線螢光譜線的波長，即能確定元素的種類；測得譜線強度並與標準樣品比較，即可確定該元素的含量。由此建立了X射線螢光光譜 (XRF)分析法。簡介 是介於原子發射光譜（AES）和原子吸收光譜（AAS）之間的光譜分析技術。基本...
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。技術原理 X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。...
逃逸峰：由於RoHS螢光分析儀採用的是Si針半導體探測器，因此當X射線螢光在通過探測器的時候，如果某種元素的含量較高(能量也會相應的較高)，其被Si吸收的機率也就越大。此時光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方會產生一個峰，...
X射線螢光光譜儀制樣設備 X射線螢光光譜儀制樣設備是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2016年11月18日啟用。技術指標 40噸壓片機和六頭電熱熔融爐。主要功能 樣品製備。
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器，配0.23°,0.46°兩個準直器； 自動進樣器：60位X-Y二維全自動機器人進樣器； 高壓發生器： 穩定性：外電源波動±1%...
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年4月1日啟用。技術指標 X射線管 4KW薄窗,Rh靶，管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-300°/min，定位重現性±...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀，靶材及功率：Rh靶 4kW，可以對5B到92U進行快速定性、定量分析，元素的檢量範圍0.0001%~...
X射線螢光光測量系統是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2007年4月24日啟用。技術指標 可程式測量平台， 4個視準器：Ф0.1mm,Ф0.3mm,Ф0.6mm,0.5*0.15mm, 可測量Au,Ni,SnPb,Ag等鍍層厚度。主要功能 鍍層厚度測量（...
螢光光譜儀簡介 結構 由光源、激發光源、發射光源、試樣池、檢測器、顯示裝置等組成。分類 螢光光譜儀可分為X射線螢光光譜儀和分子螢光光譜儀。原理 主要用途 1.螢光激發光譜和螢光發射光譜 2.同步螢光（波長和能量）掃描光譜 3.3D（...
螢光光譜分析儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2014年1月1日啟用。技術指標 動態範圍：≥1？x？106？cps 背底噪聲：≤？0.4？cps 線性範圍：≥7？x？105？cps。主要功能 除了H，He，Li，Be外，可對周期表中從5B到92U作元素...
