螢光光譜測量系統

螢光光譜測量系統是一種用於信息科學與系統科學、物理學、生物學領域的科學儀器，於2010年8月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：螢光光譜測量系統
• 產地：美國
• 學科領域：信息科學與系統科學、物理學、生物學
• 啟用日期：2010年8月26日

技術指標

光譜範圍380-780nm 光譜頻寬8nm（半波寬） 光譜精度？2nm 波長解析度＜3.5nm/象素 發光亮度精度？4% 2856K@23℃ 測量A光源的色度精度？.0015x, ？.001y（解析度是0.001） 數據解析度14bit A/D 同步範圍40-250HZ 測量和觀測視場1？的測量視場和7？的觀測視場（使用MS-75鏡頭）。

主要功能

光譜測量系統主要用於測量各種物質光譜和色度。該方法可以測定精度高、重現性好、測量速度快、不污染環境、不破壞樣品等特點，用於測量物理、化學、生物等領域內發光材料特性分析，各種顏色LED/LD及各種雷射器的波長分析等，在產品研究開發、生產過程監控與質量管理等方面起重要的作用。