螢光光譜綜合測試系統

螢光光譜綜合測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2015年11月22日啟用。

基本介紹

• 中文名：螢光光譜綜合測試系統
• 產地：英國
• 學科領域：物理學、材料科學
• 啟用日期：2015年11月22日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器

技術指標

脈衝激發源：納秒燈（N）、微秒/毫秒燈；連續激發源：氙燈、X光、雷射（980/808/375 nm）測量波長範圍：200－1700 nm; 樣品室溫度範圍：77－500 K；螢光衰減壽命：100 ps – 1000 us; 磷光衰減壽命：1us ～ 10s；。

主要功能

1、80-500 K ex/em spectra in 200-1700 nm wavelength region; 2、80-500 K Ploarized ex/em spectra in 200-1700 nm wavelength region; 3、80-500 K luminescence dynamic curves from ns to ms region; 4、RT QY efficiengy; 5、RT RL spectra under X-ray excitation.。