發光光譜測量系統

發光光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2015年10月29日啟用。

基本介紹

• 中文名：發光光譜測量系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2015年10月29日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 螢光分光光度計

技術指標

靈敏度3000:1 波長準確度0.2nm 解析度優於0.2nm（@1200g/mm光柵） 狹縫(光譜通帶)狹縫(光譜通帶)。

主要功能

用較強的單色光（如雷射器等）激發樣品/ 材料（如GaN/ZnO 等）產生螢光，通過對其螢光光譜的測量，分析該材料的光學特性。