電致發光性能及QE測試系統

電致發光性能及QE測試系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2009年11月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：電致發光性能及QE測試系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學、化學、材料科學
• 啟用日期：2009年11月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器

技術指標

光譜範圍：380-780nm。光譜解析度：3.12nm/像素。亮度範圍：0.2-30,000fl。色度準確度：±0.0015x, ±0.0015y。

主要功能

測試電致發光及其它發光光譜、色坐標、光輻射度、光通量隨電壓的變化。