螢光光譜測金機利用光的色散、吸收、散射等現象得到與被分析物質有關的光譜，從而對物質成分、結構進行分析、測量的物理光學儀器。儀器其構造由一個入射狹縫，一個色散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域，並在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。
性能特點
專業的貴金屬等全元素分析，亦可用於鍍層檢測和RoHS檢測。電製冷UHRD探測器，摒棄液氮製冷。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
抽真空樣品腔，有利於低含量輕元素的分析
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變數非線性回歸程式
智慧型全元素分析軟體，與儀器硬體相得益彰，且操作簡單。
技術指標
元素分析範圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析範圍：1ppm—99.99%
同時分析元素：24種元素同時分析
檢測限：RoHS指令規定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）檢出限最高達1ppm
測量鍍層：鍍層厚度測量最薄至0.005微米，可分析11層以上的鍍層
分析精度：0.05% (96%以上)
測量對象狀態：粉末、固體、液體
測量時間：60s—200s
工作溫度:15℃—30℃
工作濕度：≤70%
工作電壓：AC 110V/220V
標準配置
高效超薄端窗X光管
電製冷UHRD探測器
信噪比增強器
內置高清晰攝像頭
光路增強系統
可自動切換型準直器和濾光片
加強的金屬元素感度分析器
套用領域
貴金屬檢測
鋼鐵和有色金屬檢測
RoHS檢測
