光譜元素測金機

光譜測金儀是俗名,專業的說法是X螢光光譜能量色散檢測儀,亦稱XRF。設備其分析方法,是具有一定能量解析度的X射線探測器,同時探測樣品所發出的各種能量特徵X射線,探測器輸出信號幅度與接收到的X射線能量成正比,利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強度,對樣品進行定量、定性分析。

基本介紹

  • 中文名:光譜元素測金機
  • 別稱:X螢光光譜能量色散檢測儀
簡介,工作原理,結構性能,外部,內部,性能特點,套用領域,主要優勢,注意事項,

簡介

貴金屬檢測機
貴金屬檢測機貴金屬檢測機
此儀器是在貴金屬行業的最頂端的技術。但有些這種儀器是要自己配電腦的,有些是自動帶電腦的。

工作原理

利用光譜儀可測量物體表面反射的光線。陽光中的七色光是肉眼能分的部分(可見光),但若通過光譜儀將陽光分解,按波長排列,可見光只占光譜中很小的範圍,其餘都是肉眼無法分辨的光譜,如紅外線、微波、紫外線、X射線等等。通過光譜儀對光信息的抓取、以照相底片顯影,或電腦化自動顯示數值儀器顯示和分析,從而測知物品中含有何種元素。
將複色光分離成光譜的光學儀器。光譜儀有多種類型,除在可見光波段使用的光譜儀外,還有紅外光譜儀和紫外光譜儀。按色散元件的不同可分為稜鏡光譜儀、光柵光譜儀和干涉光譜儀等。按探測方法分,有直接用眼觀察的分光鏡,用感光片記錄的攝譜儀,以及用光電或熱電元件探測光譜的分光光度計等。單色儀是通過狹縫只輸出單色譜線的光譜儀器,常與其他分析儀器配合使用。

結構性能

外部

高強度鈑金支架+工程塑膠外殼,提高了儀器的外部抗高壓既規受損的能力.

光譜測金機
光譜測金機光譜測金機

內部

1、正比計數盒探測器Si-pin145Kev±5。
2、智慧型信號檢測電子電路。
3、高低壓電源。
4、X光管
5、集成工業電腦

性能特點

1、專業貴金屬檢測、鍍層厚度檢,特別是黃金中參雜銥金可有效檢測銥金。
2、智慧型貴金屬檢測軟體,與儀器硬體相得益彰。
3、任意多個可選擇的分析和識別模型。
4、相互獨立的基體效應校正模型。
5、多變數非線性回收程式

套用領域

1、黃金、鉑金、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
2、金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。
3、貴金屬加工和首飾加工行業、銀行、首飾銷售和檢測機構、電鍍行業。
4、各大專院校實驗室。
5、尤其是黃金及黃金飾品的含量檢測。

主要優勢

1)3秒鐘內可對金銀飾品進行定性識別,30秒~60秒自動計算出首飾的精確含量
2)對樣品無需任何物理和化學處理,即無損檢測金銀飾品
3)分析範圍:能夠分析金,鉑,銀,鈀等含量0.3%~99.99%
光譜測金儀圖譜
光譜測金儀圖譜光譜測金儀圖譜
4)安全性能指針符合國家標準要求(光線激發源為MO靶X光管)
5)具有溫濕度自動補償功能
6)符合最嚴格的輻射防護標準的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式(採用滑蓋設計)
7)探頭指針高,性能好,壽命長;
8)全新32位軟硬體系統,工作可靠,效率高
9)全球率先將先進的攝像定位技術引入珠寶檢測領域。該攝像定位系統除讓首飾檢測更加直觀、X螢光更集中於目標位置外,還可以將首飾被檢測到的精確位置的照片對應於檢測結果,連同計算報告一起列印出來。
10)集成工業計算機在設備機箱內,無需外接計算機;帶門鎖電鎖,使日常管理更便捷儀器使用注意事項

注意事項

影響XRF黃金純度檢測儀的檢測結果的因素有很多。由於首飾產品的特殊情況,受方法原理的限制,在使用本方法時檢測人員應了解和熟悉以下影響結果的因素(這些影響因素在不同情況下將對特徵譜線強度的採集產生很大的影響,甚至造成誤判):
a)被測樣品與標準物質所含元素組成和含量有較大的差異;
b)被測樣品的表面有鍍層或經化學處理;
c)測量時間;
d)樣品的形狀;
e)樣品測量的面積;
f)貴金屬的含量多少;
XRF光譜測金儀出來的結果通常需要全面理解,由於被測的首飾產品不同,使用的儀器不同,檢測人員的素質水平不同,對檢測結果的接收範圍建議在以下範圍內選取。隨貴金屬含量的減少,可接收的範圍將增大。測量結果的誤差範圍為0.1%—3%,也可以根據委託方的協定確定,對結果如有爭議,應以GB/T9288、GB/T11886和QB/T1656的分析結果為準。

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