螢光光譜測試系統

螢光光譜測試系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2003年11月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：螢光光譜測試系統
• 產地：中國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2003年11月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 原子螢光光譜儀

技術指標

光譜範圍：185nm—1400nm 解析度：0.05nm 色散：1.7nm/mm 重複率：±0.05nm 精確度：±0.2nm。

主要功能

Spectro 500i; Spectro 2-150i;光電倍增管； InGaAs紅外探測器及冷卻器；Nel控制器；Model SR830DSP 鎖相放大器；SR540光學斬波器；低溫螢光系統。