X螢光光譜測量系統是一種用於地球科學、材料科學、核科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2010年11月9日啟用。
X螢光光譜測量系統是一種用於地球科學、材料科學、核科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2010年11月9日啟用。技術指標 ≥500道，4KW,160mA/60KV。主要功能 對礦物樣品、合金樣品、土壤樣品、等固體樣品以及液體樣品...
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X螢光（二次X射線），探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的...
《X螢光光譜集成分析系統》是由地礦部岩礦測試研究所擔任第一完成單位，由應志春、鄧賽文、甘露、吳曉軍、梁國立擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 本課時為地質待業基金青年基金項目。旨在解決地質樣品中微量鹵素的測定難題。析...
5．微機分析系統 A．高級名牌商用機；B．19寸高解析度彩色液晶顯示器；C. HP雷射印表機。6．軟體 A．操作：WINDOS XP操作系統軟體，，使用方便。B．功能：能譜顯示，分析元素設定，能量刻度，X光管高壓、電流自動控制，樣品盤自動...
螢光光譜測量系統是一種用於信息科學與系統科學、物理學、生物學領域的科學儀器，於2010年8月26日啟用。技術指標 光譜範圍380-780nm 光譜頻寬8nm(半波寬) 光譜精度？2nm 波長解析度 主要功能 光譜測量系統主要用於測量各種物質光譜和色度...
輸出波動≤±0.0001% 角度準確度：≤±0.001° 角度重現性：＜±0.0001° 定位方式：θ/2θ分別驅動，光學定位，無機械磨損 檢測系統：全真空掃描。主要功能 固體、粉末樣品、難溶樣品的常量、微量、痕量元素分析測定。
X射線螢光光測量系統是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2007年4月24日啟用。技術指標 可程式測量平台， 4個視準器：Ф0.1mm,Ф0.3mm,Ф0.6mm,0.5*0.15mm, 可測量Au,Ni,SnPb,Ag等鍍層厚度。主要功能 鍍層厚度測量（...
超級X螢光光譜儀 超級X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2016年11月17日啟用。技術指標 元素分析範圍從硫（S）到鈾（U）。分析含量一般為0.1ppm到99.9％。主要功能 材料分析。
X-螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2009年5月1日啟用。技術指標 檢測元素範圍：O～U (Be～N需另外配置分光晶體)；測量範圍ppm～100%;檢測器：流氣正比探測器和閃爍探測器；長期穩定性：0.04%。主...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年5月5日啟用。技術指標 Ｘ射線管靶： 銠靶（Rｈ） Ｘ射線管壓： 60ＫＶ（Ｍａｘ） Ｘ射線管壓： 150ｍA（Mａｘ）檢測元素範圍：19F...
X射線螢光光譜分析系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2017年5月26日啟用。技術指標 1、獨特的UCCOTM技術，更高的靈敏度2、全新的數位化莫爾條紋測角儀，業內最快的測角儀3、更薄鈹窗、更近的樣品與光管距離4、光管防護罩和...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器，於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差：Cd：7.7%；儀器測量重複性： Cd：1.5%；線性誤差的擴展不確定度：U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒；角度準確度優於±0.001°，角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測，具有...
X射線螢光光譜岩芯掃描系統 X射線螢光光譜岩芯掃描系統是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年5月1日啟用。技術指標 MSCL-XRF。主要功能 科研用，測試樣品各項參數。
X螢光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測...
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器，於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW，穩定度±0.0005%，測角儀角度準確度≤±0.001°；角度重複性≤±0.0001°分光晶體：LiF(200)，PET，XS55，LiF(220)，Ge晶體，測試...
檢測器(Detector)接受這些X光，儀器軟體系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用於元素分析和化學分析，特別是在研究金屬，玻璃，陶瓷和建築材料，以及在地球化學研究、法醫學、電子產品進料品管（EURoHS）和考古學等領域，在某種程度上與...
光譜測量範圍：240nm～850nm 靈敏度：水喇曼信噪比4000：1（397nm/5nm bandpass)壽命回響範圍：10ps～10μs 新型型號 x射線螢光光譜儀 主要用途 儀器是較新型X射線螢光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(...
可以分析材料的狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。 對應超輕元素的X射線光管 採用4kW、30µm薄窗X射線光管，可高靈敏度測試超輕元素。 採用新型光學系統 採用新型分光晶體，與第二代儀器分光晶體相比，大幅度提高了靈敏度。
產品以光電倍增管等光探測器在不同波長位置，測量譜線強度的裝置。其構造由一個入射狹縫，一個色散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。光譜測金儀是光譜分析儀器的一個分支種類，多套用在首飾製造、礦山開採、珠寶回收、珠寶...
X螢光分析儀的置樣裝置具有可容納各種形態被測樣品的樣品室。A．樣品種類：固體﹑液體﹑粉末。B．樣品室的環境：可選擇空氣﹑真空。由軟體自動控制，無需人工操作。2 X射線管激發系統 系統採用50KV的低功率正高壓X射線發生器作為激發源...
儀器工作電源：交流220±5V(建議配置交流淨化穩壓電源 輸出功率：≤ 儀器重量：測量元素範圍:從硫(S)至鈾(U)等75種元素 元素含量分析範圍 測量時間: 100-300s (可調 七種光路校正系統，由軟體自動控制 三重安全保護模式 ...
X螢光光譜儀是真正意義上的現場測試利器。流線型的外形，帶給您全新的視覺衝擊；高貴大方的色彩，盡顯尊貴與穩重的獨特魅力；精巧的核心，融匯科技的濃縮之美；嚴謹的保護裝置，構造安全可靠的防火牆；小巧輕便，將人性化理念落實入微。主要...
波長型X螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器，於2015年4月10日啟用。技術指標 測量元素：O-U，B單通道；含量範圍：ppm-100%；B可測到500ppm；光管最大功率：4kW；高壓發生器最大功率：4kW。主要功能 能夠...
螢光光譜綜合測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2015年11月22日啟用。技術指標 脈衝激發源：納秒燈（N）、微秒/毫秒燈；連續激發源：氙燈、X光、雷射（980/808/375 nm) 測量波長範圍：200－1700 nm; 樣品...
日本理學X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2004年12月1日啟用。技術指標 ２θ角１５°193°,RSD 主要功能 金屬材料／陶瓷／玻璃／土壤／礦物中的元素定性可測元素B～U範圍內的所有元素。RSD＜1%，最大功率4KW，微區分析...
波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2007年4月3日啟用。技術指標 超銳端窗Rh靶X光管，最大功率可達4kW（60kV，125mA）的高壓發生器；晶體 8塊，覆蓋了程式中必須使用的所有波長；測角儀: 2θ角準確度0.0025...
只要測出一系列X射線螢光譜線的波長，即能確定元素的種類；測得譜線強度並與標準樣品比較，即可確定該元素的含量。由此建立了X射線螢光光譜 (XRF)分析法。簡介 是介於原子發射光譜（AES）和原子吸收光譜（AAS）之間的光譜分析技術。基本...
