波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2007年4月3日啟用。
基本介紹
- 中文名:波長色散X螢光光譜儀
- 產地:荷蘭
- 學科領域:地球科學
- 啟用日期:2007年4月3日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2007年4月3日啟用。
波長色散X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2007年4月3日啟用。技術指標 超銳端窗Rh靶X光管,最大功率可達4kW(60kV,125mA)的高壓發生器;晶體 8塊,覆蓋了程式中必須使用的所有波長;測角儀: 2θ角準確度0.0025...
波長色散型X螢光光譜儀是一種用於化學工程、材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年10月1日啟用。技術指標 可以對4Be到92U進行定性、定量分析;可以分析材料的狀態包括:粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品;採用新光學...
波長色散型X-螢光光譜儀是一種用於地球科學、工程與技術科學基礎學科、能源科學技術領域的分析儀器,於2006年06月09日啟用。技術指標 RSD=0.09% 計數率按儀器技術規定的測試條件, Cu-Kα為808Kcps; P-Kα為259 Kcps; Al-Kα在...
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線),從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、食品科學技術領域的分析儀器,於2008年12月23日啟用。技術指標 最大功率3.6KV;0~60KV間,1KV連續可調;高壓發生器輸出穩定度±0.0001%;12位自動進樣器;下照式,六塊晶體。主要功能 ...
波長色散式X射線螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2012年10月23日啟用。技術指標 布拉格角範圍:13到98度28波 分析晶體:氟化鋰200,可選其他晶體 元素範圍:Kα 22-48(鈦到銀) 元素範圍:Lα 56-...
單波長色散X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2016年10月28日啟用。技術指標 符合ASTM 7039,GB/T 11140和SH/T 0842標準要求,硫重複性0.8 ppm (2ppm), 1.8 ppm (10ppm), 12.4 ppm (500ppm); 檢測範圍0....
全自動掃描型波長色散X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年12月11日啟用。技術指標 用於入廠原輔材料檢驗;建有10條常用工作曲線;B(5)-U(92)大部分元素0.000x%--100%;2θ角準確度0.0025°;2θ角重複性0....
f) 制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。缺點 a) 定量分析需要標樣。b)對輕元素的靈敏度要低一些。c)容易受元素相互干擾和疊加峰影響。分類 X螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF...
釋文:樣品被入射X射線激發產生的螢光X射線,經分光器色散後,由測角儀(θ)聯動裝置上的探測器(2θ),在不同方向(角度-2θ)上,對X射線螢光光譜進行譜線波長和強度測量,最終給出待測元素含量報告的X射線螢光光譜分析儀器。...
順序式波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2009年3月16日啟用。技術指標 長期動態綜合穩定性:0.04%;晶體:彎晶,PX-10人工膜晶體;分析速度:每個...
自1895 年德國物理學家倫琴(Renten W C)發現了 X 射線。1896年法國物理學家喬治(G eorgs S)發現了X 射線螢光,1948年弗利德曼(Friedm an H )和伯克斯(]3irks L S)首先研製了第一台商品性的波長色散 X 射線螢光光譜儀...
波長色散台式X射線螢光光譜儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器,於2014年5月14日啟用。技術指標 分析元素範圍:從氟到鈾(F→U)。分析:固體、液體、粉末、合金以及薄膜。大氣:空氣、氦氣或真空。X射線管:...
能量色散x射線螢光光譜儀energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脈衝高度分析器進行能量色散的x射線螢光光譜儀公與波長色散x射線螢光光譜儀相比,它的結構簡單。可使用小功率x射線管激發和簡單的分光系統。採用半導體探測...
進行元素定量的分析方法。套用 適用於原子序數6(碳)以上各元素的分析。靈敏度和精密度比波長色散x射線螢光光譜法低一個數量級。儀器使用簡單,所發射分析線強度利用率高,全部x射線光譜強度可同時累積,便於顯示。
對現代能量色散和波長色散譜儀的性能作了較系統的比較,並對不同類型能量色散X射線螢光光譜在地質分析、電子電氣產品中限用物質分析、文物分析和水泥原材料分析等領域的實際套用作了詳細介紹。此書結構清晰、語言簡潔,適合初、中、高級...
f)制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。 缺點: a)難於作絕對分析,故定量分析需要標樣。 b)對輕元素的靈敏度要低一些。 c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。 X螢光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF...