X射線譜分析[法](X-ray spectrum analysis)是2015年公布的計量學名詞。
基本介紹
- 中文名: X射線譜分析[法]
- 外文名: X-ray spectrum analysis
- 所屬學科:計量學
- 公布時間: 2015年
X射線譜分析[法](X-ray spectrum analysis)是2015年公布的計量學名詞。
X射線譜分析[法](X-ray spectrum analysis)是2015年公布的計量學名詞。定義根據被測物質所產生的 X 射線譜進行定性和定量分析的方法。包括 X 射線發射光譜分析和 X 射線吸收光譜分析。出處《計...
X射線譜法是利用X射線或電子束激發試樣產生的X射線,對試樣所包含的某種元素進行定量定性分析的方法。射線是由於原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產生的粒子流,是波長介於紫外線和γ射線 之間的電磁輻射。其波長很短約...
X射線螢光分析儀(見彩圖)主要由激發、色散(波長和能量色散)、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處,但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上,兩類...
根據色散方式不同,X射線螢光分析儀相應分為X射線螢光光譜儀(波長色散)和X射線螢光能譜儀(能量色散)。螢光分析 X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀...
從獲取的X射線譜中找到峰位並換算成相應的能量是X射線譜定性分析的基礎。本軟體系統選用比較法作為計算機自動尋峰的方法。具體方法如下如果第i道計數滿足以下不等式:則認為峰位在i-1,i,i+l道中,再從這三道中選出計數最大的道...
X射線分析的新發展,金屬X射線分析由於設備和技術的普及已逐步變成金屬研究和有機材料,納米材料測試的常規方法。而且還用於動態測量。早期多用照相法,這種方法費時較長,強度測量的精確度低。50年代初問世的計數器衍射儀法具有快速、...
X射線能譜分析(X-ray spectrometric analysis)是2015年全國科學技術名詞審定委員會公布的計量學名詞,出自《計量學名詞》第一版。定義 以高能X射線為試樣,將試樣原子內層軌道的電子激發出來,形成缺少內層電子的激發態離子。該離子極不...
在寶石領域中使用較多的觀測寶石的X射線發射光譜是把寶石放在X射線管的陽極上,用高速電子流轟擊樣品,使其發出X射線譜,然後記錄其譜線並與已知譜線對比來確定樣品的品種;X射線的吸收光譜是用X射線來照射樣品,然後測定透過該寶石後的X...
波長色散X射線譜法 波長色散X射線譜法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 用X射線光譜儀進行微區化學成分分析的方法。從譜峰波長可確定試樣所含元素,從譜峰強度可計算元素的含量。出處 《材料科學技術名詞》。
X射線螢光譜法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 利用元素特徵X射線譜進行元素成分及含量分析的一種方法。從每種元素激發出的X射線特徵(螢光)譜線都有其特徵波長值,其峰值強度與該元素在材料中的含量有關。出處 《材料科學技術名詞...
能量色散X射線譜是指在透射和掃描電鏡中使用X射線能譜儀分析試樣化學成分的方法及可得到的譜圖。簡介 X射線能譜儀用敏視窗一漂移鋰矽探測器,可探測從鈉至鈾的元素。改用薄視窗或無視窗,可探測元素擴展至輕元素。比例法 透射電鏡中...
本書論述X射線光譜分析的基本原理和方法.主要討論X射線光譜分析的理論基礎和儀器裝置,定性、半定量分析和原級X射線光譜分析法,螢光X射線光譜定量分析法,以及X射線能譜分析法等.對於國內外近年來的最新研究成就,也作了概括的介紹....
發射X射線譜法 發射X射線譜法是2003年公布的機械工程名詞。定義 利用X射線或電子束激發試樣產生的X射線,對試樣所包含的某種元素進行定量定性分析的方法。出處 《機械工程名詞 第三分冊》。
電子探針一般不損壞樣品,樣品分析後,可以完好保存或繼續進行其它方面的分析測試,方法及套用 電子探針的定性分析方法 定點分析 將電子束固定在要分析的微區上,用波譜儀分析時,改變分光晶體和探測器的位置,即可得到分析點的X射線譜線;...
質子激發X螢光光譜分析法PIXE是用加速後的高能質子作為激發源,將高能質子入射到樣品上誘發樣品原子發射特徵X射線,根據X射線譜的能量和強度來確定被測樣品元素種類和含量的檢測方法。PIXE=Particle Induced X-ray Emission 粒子誘發X射線...