質子激發X螢光光譜分析法PIXE是用加速後的高能質子作為激發源，將高能質子入射到樣品上誘發樣品原子發射特徵X射線，根據X射線譜的能量和強度來確定被測樣品元素種類和含量的檢測方法。
PIXE=Particle Induced X-ray Emission 粒子誘發X射線螢光分析
1. 粒子誘發x射線螢光分析（PIXE）是粒子束分析的一個重要分支。
2.其開創者是Sven A. E. Johansson等人[1]，於1970年首次開展這方面的工作，並為人們所重視，且日益廣泛的被大家採用。
3. PIXE分析具有靈敏、快速、取樣少和無損分析等特點。
4. 該方法對大多數元素（Z≥12）是很靈敏的其相對靈敏度為PPm（即百萬分之一）量級，可檢測的元素含量的下限為10-16g。
原理：粒子束與原子相互作用的物理圖像。如右圖
PIXE分析的特點：
元素的鑑定一般在z≥12;
能夠分析含量少濃度低的元素；
一次測量可探知多種元素；
靈敏度隨原子序數平滑變化；
非破壞性快速分析，且可以定量和絕對定標；
可採用微束。
套用：
環境污染的監測；
生物和醫學樣品的分析；
考古研究；
超重元素的探測；
質子微束及質子顯微鏡。
