X射線衍射螢光分析儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2018年12月7日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線衍射螢光分析儀
- 產地:荷蘭
- 學科領域:環境科學技術及資源科學技術
- 啟用日期:2018年12月7日
- 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 紅外光譜儀
X射線衍射螢光分析儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2018年12月7日啟用。
X射線衍射螢光分析儀 X射線衍射螢光分析儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2018年12月7日啟用。技術指標 5,峰分離度: 1.2。主要功能 元素定量,定性分析。
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以對5B到92U進行快速定性、定量分析,元素的檢量範圍0.0001%~...
(3) 射線檢測器 檢測衍射強度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。(4) 衍射圖的處理分析系統 現代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟體的計算機系統, 它們的特點是自動化和...
高解析度粉末X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2009年11月30日啟用。技術指標 Cu靶,功率3kW,θ-θ測角儀,LynxEye陣列探測器。主要功能 可進行材料的物相鑑定和定量分析,並對材料的晶體結構、晶胞參數、晶粒大小等進行...
X射線分析的新發展,金屬X射線分析由於設備和技術的普及已逐步變成金屬研究和有機材料,納米材料測試的常規方法。而且還用於動態測量。早期多用照相法,這種方法費時較長,強度測量的精確度低。50年代初問世的計數器衍射儀法具有快速、強度...
(3) 射線檢測器 檢測衍射強度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。(4) 衍射圖的處理分析系統 現代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟體的計算機系統, 它們的特點是自動化和...
高功率X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月21日啟用。技術指標 旋轉陽極Cu靶,最大輸出功率6kW,能量色散陣列探測器(能量解析度優於380eV),高精度五軸尤拉環樣品台。主要功能 常規XRD掃描,薄膜掠入射等。
微焦斑轉靶單晶X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年12月21日啟用。技術指標 旋轉陽極Mo靶,二維面探測器;三軸(ω,2θ,φ)測角儀:角度重現性±0.0001°;液氮低溫系統:溫度範圍80-500K。主要功能 常溫及...
20%,無需單色器,即可有效去除含鐵樣品的螢光;直接將光管轉90度即刻完成點線光源的切換,支持小件樣品的微區無損分析。主要功能 通過對材料進行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態。
X射線螢光儀及配套設備是一種用於冶金工程技術領域的分析儀器,於2015年1月1日啟用。技術指標 最大功率 4kw 最大電流 170mA 最大電壓 60KV 外電壓波動1%時優於0.00005%。主要功能 能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是...
X射線衍射成像系統 X射線衍射成像系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年12月11日啟用。技術指標 測試角度從4-100,解析度比一般衍射儀高一倍。主要功能 對粉末材料進行X射線衍射分析。
粉末衍射、X射線單晶衍射、X射線螢光光譜儀等,2006年,Bruker AXS兼併了德國著名直讀光譜生產企業Quantron公司以及德國著名氣體元素分析企業Juwe公司,成立了單獨的Bruker Element部門,成為全球唯一一個可為用戶提供完整金屬元素解決方案的儀器...
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