X射線衍射成像系統

X射線衍射成像系統

X射線衍射成像系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2003年12月11日啟用。

基本介紹

  • 中文名:X射線衍射成像系統
  • 產地:德國
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2003年12月11日
  • 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
技術指標,主要功能,

技術指標

測試角度從4-100,解析度比一般衍射儀高一倍。

主要功能

對粉末材料進行X射線衍射分析。

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