X螢光化學分析儀

X螢光化學分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年6月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：X螢光化學分析儀
• 產地：中國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2016年6月1日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器

技術指標

1、X射線發生器：採用薄Be（鈹）窗的韌致輻射型﹑低功率﹑自然冷卻﹑高壽命的X光管，並根據實際套用需要選擇靶材。供選擇的靶材為：Rh（銠靶），Ag（銀靶），Mo（鉬靶），Ti（鈦靶）等。對輕元素Na、Mg、Al、Si、S等具有高激發效率。2.濾光片：最多可以選擇6個濾光片，選擇合適濾光片可以使特定分析元素獲得很高的分析檢出限。3、原裝進口電製冷高解析度高計數率探測器：對55Fe5.9keV的X射線在計數率為1000CPS時的解析度為139eV。對輕元素Na、Mg、Al、Si、S等具有極高靈敏度與高解析度。

主要功能

主要用於無機非金屬材料的化學成分分析。