波長色散X射線譜(wavelength dispersion X-ray spectroscopy)是2019年公布的冶金學名詞,出自《冶金學名詞》第二版。
基本介紹
- 中文名:波長色散X射線譜
- 外文名:wavelength dispersion X-ray spectroscopy
- 所屬學科:冶金學
- 公布時間:2019年
波長色散X射線譜(wavelength dispersion X-ray spectroscopy)是2019年公布的冶金學名詞,出自《冶金學名詞》第二版。
波長色散X射線譜(wavelength dispersion X-ray spectroscopy)是2019年公布的冶金學名詞,出自《冶金學名詞》第二版。定義用X光光譜儀進行微區化學成分分析的方法。從譜峰波長可確定試樣...
根據分光方式的不同,X射線螢光分析可分為能量色散和波長色散兩類,也X射線螢光分析就是通常所說的能譜儀和波譜儀,縮寫為EDXRF和WDXRF。通過測定螢光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線螢光分析,相應的儀器稱之為能譜儀,通過測定螢光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波長色散X...
波長色散X射線譜法 波長色散X射線譜法是2011年公布的材料科學技術名詞。定義 用X射線光譜儀進行微區化學成分分析的方法。從譜峰波長可確定試樣所含元素,從譜峰強度可計算元素的含量。出處 《材料科學技術名詞》。
X射線螢光分析儀(見彩圖)主要由激發、色散(波長和能量色散)、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處,但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上,兩類儀器也有顯著的區別。X射線螢光分析儀按其性能和套用範圍,可分為實驗室用的X射線...
螢光X射線分析又稱X射線次級發射光譜分析。本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特徵X射線(X光螢光)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。歷史背景 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)製成第一台波長色散X射線螢光分析儀,至60年代本法在...
二、連續X射線譜 三、特徵X射線譜 四、光管特性 第二節 液體金屬陽極X射線光管 第三節 冷X射線光管 第四節 單色與選擇激發 一、濾光片 二、二次靶 第五節 同位素源 第六節 同步輻射光源與粒子激發 第七節 聚束毛細管X射線透鏡 第八節 X射線雷射光源 參考文獻 第四章 探測器 第一節 波長色散探測器 一...
裝上波長色散X射線譜儀(WDX)或能量色散X射線譜儀(EDX),使具有電子探針的功能,也能檢測樣品發出的反射電子、X射線、陰極螢光、透射電子、俄歇電子等。把掃描電鏡擴大套用到各種顯微的和微區的分析方式,顯示出了掃描電鏡的多功能。另外,還可以在觀察形貌圖象的同時,對樣品任選微區進行分析;裝上半導體試樣座...