X射線晶體衍射分析儀

X射線晶體衍射分析儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2011年8月31日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線晶體衍射分析儀
• 產地：荷蘭
• 學科領域：物理學、化學
• 啟用日期：2011年8月31日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

X射線晶體分析儀利用背射勞厄照相，底片安裝在晶體與射線源之間，而入射光束則在底片上的小孔通過，所記錄的為向後方向上的衍射光束，用衍射光束的方向來測量未知晶體單位晶胞的的形狀和大小，以測定晶體的取向和評定晶體的完善性。

主要功能

對晶體材料進行精確測角定向，利用X射線通過前置單色器，衍射線被單色化後照射到樣品上，符合公式nλ=2dsinθ時產生衍射，被計數管接收放大，通過表顯示強度，測角儀讀出準確角度值。