X射線雙微焦斑單晶衍射儀

X射線雙微焦斑單晶衍射儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2015年3月18日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線雙微焦斑單晶衍射儀
• 產地：美國
• 學科領域：化學、材料科學、化學工程
• 啟用日期：2015年3月18日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

X射線發生器最大輸出功率：50W 解析度：Cu靶：0.837；Mo靶：0.80 X射線管保護：過電壓、過電流、冷卻水異常保護。

主要功能

可實現對樣品的晶體結構測定，揭示結構與性能的關係。物質的性質如光學性質、磁學性質、吸附性質、電學性質及生活分子活性及其功能都與不同層次的結構有關。