雙微焦斑X射線單晶衍射儀是一種用於化學、工程與技術科學基礎學科、自然科學相關工程與技術、材料科學領域的分析儀器,於2017年6月15日啟用。
基本介紹
- 中文名:雙微焦斑X射線單晶衍射儀
- 產地:日本
- 學科領域:化學、工程與技術科學基礎學科、自然科學相關工程與技術、材料科學
- 啟用日期:2017年6月15日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
雙微焦斑X射線單晶衍射儀是一種用於化學、工程與技術科學基礎學科、自然科學相關工程與技術、材料科學領域的分析儀器,於2017年6月15日啟用。
雙微焦斑X射線單晶衍射儀是一種用於化學、工程與技術科學基礎學科、自然科學相關工程與技術、材料科學領域的分析儀器,於2017年6月15日啟用。技術指標 Helios nanolab 460HP。主要功能 精確測定無機物、有機物和金屬配合物等結晶物質的三維空間結構和電子云密度,分析孿晶、無公度晶體、準晶等特殊結構。
X射線雙微焦斑衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年11月1日啟用。技術指標 1. Eos CCD 檢測器 2. 微焦斑Mo光源(Mova)或/和 微焦斑Cu光源(Nova) 3. 四圓 kappa 測角儀。主要功能 1. 檢測器:採用級別最高、缺陷率最低的CCD晶片,是高靈敏度和大有效探測面積的最佳組合,適合於收集蛋白質...
雙靶微焦斑單晶X-射線衍射系統是一種用於化學領域的分析儀器,於2015年11月17日啟用。技術指標 X射線光源採用Mo/Cu雙微焦斑光源系統,可自動切換。檢測器全新半導體二維陣列探測器(10.0cmX14.0cm)。測角儀為三軸測角儀,角度重現性達0.0001度。低溫冷卻系統溫度範圍-150至300K。主要功能 精確測定無機物,有...
雙微焦斑單晶衍射儀是一種用於數學領域的分析儀器,於2016年12月01日啟用。技術指標 1. Atlas CCD 檢測器 2. 微焦斑Mo光源和微焦斑Cu光源3. 四圓 kappa 測角儀4. 開流樣品冷卻單元(90-300K)。主要功能 測定新化合物(晶態)分子的準確三維空間(包括鍵長、鍵角、構型、構象乃至成鍵電子密度)及分子在...
雙光源單晶X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2016年11月08日啟用。技術指標 (1)Mo/Cu雙微焦斑系統,可自動切換;(2)全新CMOS二維陣列探測器,檢測器面積10cm×14cm;(3)Kappa四圓測角儀,角度重現性±0.0001°;(4)樣品液氦/液氮低溫冷卻系統,溫度範圍28K-298K,控溫精度±0.1K...