雙光源單晶X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2016年11月08日啟用。
基本介紹
- 中文名：雙光源單晶X射線衍射儀
- 產地：德國
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2016年11月08日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,
技術指標
(1)Mo/Cu雙微焦斑系統，可自動切換;（2）全新CMOS二維陣列探測器，檢測器面積10cm×14cm；（3）Kappa四圓測角儀,角度重現性±0.0001°；（4）樣品液氦/液氮低溫冷卻系統，溫度範圍28K-298K，控溫精度±0.1K；（5） 系統控制、數據採集分析、單晶結構解析軟體包，具備晶體結構解析和精修的功能。
主要功能
（1） 測定無機、有機、金屬有機配合物、蛋白質單晶體等的晶胞參數、晶型、空間群、晶胞中原子的三維分布（原子坐標）、鍵長、鍵角、構象、氫鍵等結構信息；（2） 單晶體的低溫結構分析，低溫結構相變研究。
