變溫X射線衍射儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2012年12月12日啟用。
基本介紹
- 中文名：變溫X射線衍射儀
- 產地：荷蘭
- 學科領域：材料科學、化學工程
- 啟用日期：2012年12月12日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,
技術指標
X射線發生器和機櫃： 最大輸出功率：3kW 最大管壓： 60kV，1mV/步, 機櫃同步數字顯示 最大管壓： 60mA，1mA/步,機櫃同步數字顯示 電源穩定度：0.005%（外 電 源 變 化10％） X射線防護標準：？1？Sievert/h（10cm距離）金屬陶瓷X光 管： 最大功率：2.2kW（Cu靶），其他靶材可選 最大管壓：60kV 最大管流：55mA 焦斑：12x0.4mm長 細 焦 斑及 點 焦 斑 保證壽命：二年或4000小時 點線焦斑可自由切換無需校準，更換光管無需校準 測角儀: 角度重現性：+/- 0.0001 度 最小步長： 0.0001 度，可以停止在任何規定角度 編碼方式：雙光學編碼 測角儀半徑：240mm 光學編碼： 直接光學定位（DOPS2） 馬達驅動：直流馬達 整機重現性：0.001？ PIXcel3D 全能2維矩陣探測器 計數矩陣： 256x256 pixcel 像素大小： 55？mx55？m 99%線性範圍：1x1010cps 靜態掃描範圍：6.5？ 最小背景：1cps 工作方式： 0維（點探測器），1維（陣列探測器模式），2維（面）。
主要功能
可以測定樣品在中低溫和高溫範圍的晶體結構特徵。包括不同溫區樣品的晶體結構，物相定性、定量分析，晶格常數測定，晶粒大小測定與晶胞畸變及結晶度分析，物相豐度定量分析，納米樣品粒徑、空孔尺寸分析等。特別適合用於各種材料在不同溫度時物相變化的定性、定量分析研究，樣品材料可以包括無機材料、有機材料、複合材料、納米材料等粉末、塊狀、薄膜、微區微量樣品。本儀器可在材料、化工、高分子科學、物理、化學、生物、製藥等學科實現共享。
