高溫粉末X-射線衍射儀是一種用於化學、地球科學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2013年3月21日啟用。
基本介紹
- 中文名：高溫粉末X-射線衍射儀
- 產地：荷蘭
- 學科領域：化學、地球科學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術
- 啟用日期：2013年3月21日
- 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
技術指標,主要功能,
技術指標
功率：50×40 （KV×MA；）穩定性:±0.01%之內； ；2θ測角範圍：0.5°-146°；最小步長：0.0001度：儀器角度解析度：D=28%； 2TH角度重現性：σ=0.00038；SC探測器能量解析度：E=40%； 綜合穩定性：S=1.16% 靶：銅靶；測角儀：2θ／θ耦合 、２θ、θ獨立； 測角儀精度：0.0001°； 高溫樣品台最高溫度1500度。
主要功能
1、主要用於凝聚態物理學、化學、材料、環境等領域，材料的物相分析、結構和微結構的表征；能對材料進行微區表征； 2、測定未知晶體結構； 3、物相的定性分析和定量分析； 4、測定精密點陣常數和固溶體類型和固溶度； 5、測定物質隨組成發生的膨脹收縮,點陣畸變和相變； 6、測定巨觀殘餘應力,測定晶粒尺寸，微應力和材料的織構； 7、測定非晶物質原子徑向分布函式，聚合物結晶度； 8、小角散射－測定納米粒徑分布和納米孔徑分布。9、高溫相變研究。
