低角度X射線衍射儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2016年6月28日啟用。
低角度X射線衍射儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2016年6月28日啟用。技術指標本儀器的測試角度範圍為0.6°—10°。1主要功能進行物相分析、取向分析、晶粒大小和微觀應力的測定、巨觀應力的測定及點陣參數的精...
X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀，英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。原理 x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X...
小角散射X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於1994年1月10日啟用。技術指標 轉靶12 kW；Cu靶 Ka1，波長0.15405 nm；角度解析度0.01°。主要功能 基於多晶粉末X射線衍射測定材料的晶體結構。
一粒小晶體衍射的X射線是射向整個空間的。具有大的HKL，也即大θ或小d值的衍射的強度一般比較低，不易測得。如何在三維空間測得儘可能多的，儘可能準確的衍射線強度成為對X射線單晶體衍射儀的基本要求。實驗儀器 若將一束單色X射線...
衍射儀也稱X射線發生器、探測器X射線發生器，是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一，其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。進展 衍射儀的進展主要在三個方面：1、X射線發生器，2、探測器，3、衍射幾何與光路。x射線發生...
原位小角X射線散射儀是一種用於力學、物理學、材料科學、化學工程領域的分析儀器，於2016年8月2日啟用。技術指標 （1）可以同時線上實時、連續採集小角、廣角數據。（2）測試時光斑大小0～3cm連續自動可調，精度≤0.001mm；（3）最小...
X射線衍射儀是利用X射線衍射法對物質進行非破壞性分析的儀器,由X射線發生器、測角儀、X射線強度測量系統以及衍射儀控制與衍射數據採集、處理系統四大部分組成。儀器分類 “X射線衍射儀可分為X射線粉末衍射儀和X射線單晶體衍射儀，由於...
X射線衍射儀系統是一種用於化學、藥學、材料科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2012年12月15日啟用。技術指標 功率：3 kW 測角範圍(2θ)：0.1 ~ 140°測角準確度Δ(2θc)：0° 測角復現性（Sθd ）：0....
攜帶型X射線衍射儀是一種用於土木建築工程領域的物理性能測試儀器，於2018年11月28日啟用。技術指標 環境工作溫度：-20℃~35℃； 環境濕度：0~75%； 供電系統：100~240V，50/60 Hz； 記憶體容量：40GB； 激發源：低功率X射線陶瓷管...
15-X射線衍射儀 15-X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2018年12月29日啟用。技術指標 X射線發生器最大輸出功率 3KW，最大管壓60kV，最大管流60mA，5軸樣品台。主要功能 薄膜電子材料的定性分析、取向分析。
以測定晶體的取向和評定晶體的完善性。主要功能 對晶體材料進行精確測角定向，利用X射線通過前置單色器，衍射線被單色化後照射到樣品上，符合公式nλ=2dsinθ時產生衍射，被計數管接收放大，通過表顯示強度，測角儀讀出準確角度值。
X射線衍射儀 基本構成 （1） 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。（2） 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體...
X射線微焦斑單晶衍射儀是一種用於生物學領域的分析儀器，於2012年11月23日啟用。技術指標 微焦斑銅靶，帶多層膜光學部件，功率50W，最大電流1mA，電壓50KV，kappa四原測角儀，角度解析度0mega，theta為0.0125度，CCD檢測器以及，...
D8X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2011年7月8日啟用。技術指標 1、掃描模式：廣角5°-160°，步進掃描； 2、X光管：銅靶（陶瓷外殼）； 3、工作電流電壓：40KV、40mA； 4、測角儀器精度：0.0001°； 5、狹縫...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀，靶材及功率：Rh靶 4kW，可以對5B到92U進行快速定性、定量分析，元素的檢量範圍0.0001%~...
島津X射線衍射儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器，於2014年03月31日啟用。技術指標 運轉（1000°/min），精度角度（±0.0001°）；。主要功能 精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量...
X射線雙微焦斑衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2013年11月1日啟用。技術指標 1. Eos CCD 檢測器 2. 微焦斑Mo光源（Mova）或/和 微焦斑Cu光源（Nova） 3. 四圓 kappa 測角儀。主要功能 1. 檢測器：採用級別最高、...
Empyrean 銳影X射線衍射系統，可用於粉末物相測定，薄膜物相測定，薄膜chi、phi掃描、薄膜應力測試以及搖擺曲線等高分辨精確測量等。其X光管全部採用金屬陶瓷材料製造，壽命長，陽極靶材與燈絲經過三維高精度定位；本儀器具有唯一的全能矩陣探測...
度的角度重現性（±0.001º）保證高速測量 和高的數據可靠性。卡口式連線光鑭來實現X射線光束的準直確保光束在水平方向的完美調整；索拉狹縫限制垂直方向上光的發散。儀器介紹 APD 2000多功能衍射儀Ital structures 公司數字式粉末衍射...
這樣的衍射花樣容易準確測定晶體的衍射方向和衍射強度，適用於未知晶體的結構分析。周轉晶體法很容易分析對稱性較低的晶體（如正交、單斜、三斜等晶系晶體）結構，但套用較少。多晶衍射法 多晶X射線衍射方法包括照相法與衍射儀法。照相法...
面探X射線衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2003年12月1日啟用。技術指標 2θ測量範圍:-10°-155°。微區最小測量範圍:直徑50μm。主要功能 廣泛套用於金屬及合金材料、半導體及超導材料、化學及塗層材料、人工晶體、聚合物...
X射線粉晶衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年11月7日啟用。技術指標 包括長壽命X光管、X射線發生器、高精密測角儀、雙臂探測器系統，閃爍計數器，陣列探測器、標準樣品台，計算機控制系統、數據處理軟體、相關套用軟體和循環...
X-ray單晶衍射儀 X-ray單晶衍射儀是一種用於物理學、化學、生物學、藥學領域的分析儀器，於2016年4月22日啟用。技術指標 單鉬靶，低溫。主要功能 結構測定。
全自動X-射線粉末衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器，於2009年4月14日啟用。技術指標 功率3kW; 穩定度≤0.005%；最快轉動速度：1500˚/min；角度重現性：0.0001°；最小步長：0.0001°閃爍計數器線性範圍：2 x ...
X射線衍射螢光分析儀 X射線衍射螢光分析儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2018年12月7日啟用。技術指標 5，峰分離度： 1.2。主要功能 元素定量，定性分析。
X射線多晶粉末衍射儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2014年11月1日啟用。技術指標 1.最大輸出功率3kW，配有Cu靶和陶瓷X光管； 2.測角儀採用光學編碼器技術與步進馬達雙重定位，角...
