四圓X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2000年11月26日啟用。
基本介紹
- 中文名:四圓X射線衍射儀
- 產地:中國
- 學科領域:化學
- 啟用日期:2000年11月26日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
四圓X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2000年11月26日啟用。
四圓X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2000年11月26日啟用。技術指標晶胞參數a, b, c, α,β,γ?偏差 ,原子坐標,鍵長、鍵角,可靠因子Rf, 權因子Rw, GOF值。1主要功能該儀器為一種通過光...
四圓衍射儀(four-circle diffractometer)是一種測量單晶X射線衍射強度的儀器。它使用一個計數器(如蓋革-米勒計數器)測量一個衍射光束(或斑點)的強度。結構性能 四圓衍射儀使用一個計數器測量衍射光束的強度。一個單晶的衍射點可有...
四圓衍射儀法是一種獲得X射線單晶體衍射圖的實驗技術,常用閃爍計數器作探測器。入射光和探測器在一個平面內(稱赤道平面), 晶體位於入射光與探測器的軸線的交點,探測器可在此平面內繞交點旋轉,因此只有那些法線在此平面內的晶面族...
四圓單晶X射線衍射儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2007年10月1日啟用。技術指標 小角度衍射,角度範圍:0-130度。主要功能 X 射線多晶衍射是利用不同構象和晶型的粉末固體對X射線有其特殊的 衍射方向和強度, 得到特徵...
X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀,英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。原理 x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X...
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體,如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射,由對衍射線的分析...
衍射儀也稱X射線發生器、探測器X射線發生器,是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一,其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。進展 衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器,2、探測器,3、衍射幾何與光路。x射線發生...
雙光源X射線單晶衍射儀是一種用於預防醫學與公共衛生學領域的醫學科研儀器,於2010年11月1日啟用。技術指標 技術參數:1. Atlas CCD 檢測器 2. 增強型Mo光源和超強型Cu光源 3. 四圓 kappa 測角儀。主要功能 可用微處理器控制操作...
當試樣和計數管連續轉動時,衍射儀就能自動描繪出衍射強度隨2θ角的變化情況,即為X射線衍射圖。二、衍射幾何 測角儀有著獨特的衍射幾何。試樣固定在測角儀圓的中心軸(θ軸)上, 可連續轉動;探測器則可沿著測角儀圓連續轉動(2θ軸...
(3) 射線檢測器 檢測衍射強度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。(4) 衍射圖的處理分析系統 現代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟體的計算機系統, 它們的特點是自動化和...
於2012年8月23日啟用。技術指標 垂直式測角儀,可變狹縫。主要功能 外型小巧方便,具有近於高端分析儀器的測試性能,廣泛套用於各種金屬及晶體材料的物質結構組成分析,是一種適用於科研實驗的X射線衍射儀。
X射線晶體衍射分析儀是一種用於物理學、化學領域的分析儀器,於2011年8月31日啟用。技術指標 X射線晶體分析儀利用背射勞厄照相,底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過,所記錄的為向後方向上的衍射光束,用衍射...
X射線單晶衍射儀主要用於精確、快速地測定小分子無機物、有機物、配合物以及蛋白質大分子等的固體狀態的結構以及區分和確定晶體的手征性及空間結構,而且是目前已知的最有力的晶態物質結構的表征手段。正因為如此,它就為進一步研究這些...
閃爍計數器:是利用X射線激發某些固體物質,發射可見螢光並通過光電倍增管放大的計數器。閃爍計數管基本上由三部分組成:閃爍體、光電倍增管和前置放大器。四圓單晶衍射儀和多晶衍射儀都用這樣類似的系統來測量衍射線的強度。主要的X射線...
但這種方法只能記錄很少的幾個衍射環,不適於其它套用。衍射儀法 X射線衍射儀以布拉格實驗裝置為原型,融合了機械與電子技術等多方面的成果。衍射儀由X射線發生器、X射線測角儀、輻射探測器和輻射探測電路4個基本部分組成,是以特徵X射線...
X射線薄膜衍射儀 X射線薄膜衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2004年12月16日啟用。技術指標 角度範圍2Theta -5o~160o,角度解析度0.001o;薄膜樣品台。主要功能 分析材料的物質組成以及能級結構。
單晶X衍射儀是一種用於信息科學與系統科學領域的分析儀器,於2011年10月1日啟用。技術指標 1、大面積圓筒IP探測器 2、高功率轉靶 3、雙靶合一(Cu靶、Mo靶) 4、自動制氮冷卻系統 5、四圓Kappa測角儀。主要功能 主要測試和研究...
X射線高分辨衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2007年1月15日啟用。技術指標 2Th準確度:最強峰位角度值與標準卡片值(35.153)之差0.01度;GM測試:最強峰值強度≥2.3E09cps,Si111樣品半高寬0.028度;四晶單色器測試:...
島津X射線衍射儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2014年03月31日啟用。技術指標 運轉(1000°/min),精度角度(±0.0001°);。主要功能 精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量...
閃爍計數器, 線性範圍:0-2*106CPS,資料庫含11.7萬張標準圖譜。主要功能 樣品通常為小塊金屬或粉末,又稱粉末X射線衍射儀。利用多晶樣品對X射線的衍射效應,記錄和分析X射線衍射圖譜,可以對樣品進行物相定性和定量分析。
由於雙圖像版記錄方式,該衍射儀的最大數據收集與數據讀出可以同時進行,大大縮短樣品的整體測量實驗時間。儀器測量精度可達到0.5%Å(大分子)、0.005%Å(小分子),高於通常X射線衍射儀器的測量精度。附屬檔案信息 冷卻系統...
衍射儀系統是一種用於化學、地球科學、藥學、材料科學領域的分析儀器,於2004年12月31日啟用。技術指標 X射線高壓發生器:最大功率16 kW,最大電壓40kV,最大電流40mA;陶瓷X光管:Cu靶;掃描模式:θ-θ偶合聯動;掃描範圍:0.5-...
對於衍射線的記錄早期大多採用照相技術。由電離室發展而來的衍射儀技術受到重視。到80年代﹐粉晶X射線衍射儀的使用已相當普遍﹐用於結構分析的單晶四圓 X射線衍射儀也開始逐步取代照相方法。特別是計算機技術在晶體X射線衍射研究中的廣泛套用...
4.1.1測角儀/66 4.1.2計數器/68 4.1.3計數電路/69 4.1.4X射線衍射儀的常規測量/70 4.2X射線物相分析/71 4.2.1物相的定性分析/71 4.2.2物相的定量分析/80 4.3點陣常數的準確測定/84 4.3.1測量原理...