X射線衍射測試分析基礎教程

X射線衍射測試分析基礎教程

《X射線衍射測試分析基礎教程》是2014年化學工業出版社出版的圖書,作者是徐勇、范小紅。

基本介紹

  • 中文名:X射線衍射測試分析基礎教程
  • 作者:徐勇、范小紅
  • 出版時間:2014年1月1日
  • 出版社:化學工業出版社
  • ISBN:9787122185501 
內容簡介,目錄,

內容簡介

X射線衍射測試分析基礎教程(十二五普通高等教育本科規劃教材)
本書在簡單介紹X射線衍射分析原理的基礎上,重點介紹X射線衍射分析法在材料研究方面的套用。主要包括晶體學基礎與X射線運動學衍射原理;現代X射線衍射儀測試原理;X射線衍射儀測量方法與分析技術;X射線衍射譜線分析與套用;X射線衍射物相分析;晶體點陣常數精確測定;巨觀內應力測定;織構測定與單晶定向;Rietveld方法簡介。
本書可作為高等學校化工、材料類專業有關“測試方法”、“材料結構”課程本科生、研究生的教學用書,也可作為相關科研工作者及廠礦技術人員的參考書。

目錄

第1章緒論
11衍射技術發展歷史與現狀
12衍射技術套用概述
121粉末照相法
122多晶衍射儀法
123同步輻射技術
第2章晶體學基礎與X射線運動學衍射原理
21晶體結構與磁結構
211晶體結構類型
212周期性和點陣空間
213點對稱
214點群
215磁結構和磁對稱
22X射線衍射原理
221倒易點陣
222晶體的極射赤面投影
223衍射幾何理論
224單個晶胞散射和理想晶體散射
225單個理想小晶體的散射強度
226多晶體衍射
23X射線衍射系統消光規律
231晶體結構的消光規律
232系統消光與點陣類型和對稱性
關係
233衍射指數指標化
第3章現代X射線衍射儀測試原理
31射線源
311普通X射線源
312同步輻射光源
32測角儀
321測角儀結構及布拉格布倫塔諾
聚焦原理
322狹縫系統及幾何光學
323測角儀的調整
33探測器
332位置靈敏計數器
333平面位敏計數器
335Si(Li)半導體固態探測器
336前置放大器和主放大器及脈衝成
形器
337單道脈衝分析器
338多道脈衝分析器
339定標器
3310速率計(計數率計)
3311探測器掃測方式及參數
3312X射線衍射能量色散測量
34單色器
341單色器的原理
342晶體單色器的作用
343石墨晶體單色器
35濾色片
36發散狹縫與接收狹縫
37衍射光路
第4章X射線衍射儀測量方法與分析技術
41樣品製備
411粉末粒度要求
412樣品試片平面的準備
413樣品試片的厚度
414樣品製備要求
415制樣技巧
42參數選擇方法
421衍射參數
422衍射參數選擇
43數據採集
431軟體設定
432數據格式
433誤差分析
44軟體操作與套用
441X射線衍射的一般實驗過程
442Bruker D8 Advance系列詳細參數
指標
443粉末衍射儀操作步驟
第5章X射線衍射譜線分析與套用
51X射線衍射寬化效應
511晶粒度引起的寬化效應
512微觀應力(應變)引起的寬化
效應
513堆垛層錯引起的寬化效應
52微晶微應力兩重寬化效應的分離
521近似函式法和最小二乘方法
522方差分解法
523傅立葉級數分離法
53晶粒尺寸及統計分布
54套用實例
541納米NiO的微結構分析
542六方βNi(OH)2中的微結構
55實驗指導:微觀應力與亞晶尺寸的
測量
551實驗目的
552實驗原理
553實驗方法與實例
第6章X射線衍射物相分析
61定性分析
611物相定性分析的理論基礎
612粉末衍射卡(PDF)
613粉末衍射卡索引
614定性分析的方法及步驟
62定量分析
621理論基礎
622分析方法
623存在的問題
63實驗指導:物相定性分析和定量
分析
631物相定性分析
632物相定量分析
第7章晶體點陣常數精確測定
71基本原理
72初始點陣參數的獲得
73點陣常數測定誤差來源
731德拜法中的系統誤差
732衍射儀中的系統誤差
74精確測定點陣常數的方法
741定峰方法
742圖解外推法
743最小二乘方法
744標準樣校正法
75點陣常數精確測定
751測角儀固有誤差
752測角儀零位面的調整誤差
753試樣表面偏軸誤差
754試樣平面性誤差,光束水平與軸向
發散誤差
755試樣透明度誤差
756測量記錄線路滯後、波動導致的
誤差
757波長非單色化及色散的影響
758波長數值的影響
759羅倫茲偏振因子影響
7510溫度誤差
7511折射誤差
7512其他誤差
76實際套用
761合金固溶體中溶質元素固溶極限的
測定
762鋼中馬氏體和奧氏體的碳含量
測定
763單晶樣品點陣常數的測定
77實驗指導:點陣常數的精確測量
771實驗目的
772實驗原理
773實驗方法與實例
第8章巨觀內應力測定
81基本原理
811應力的分類及其X射線衍射
效應
812單軸應力測定的原理和方法
813平面巨觀應力的測定原理
82測定與數據處理方法
821平面巨觀應力的測定方法
822應力測定的數據處理方法
823三維應力及薄膜應力測量
83實驗指導:巨觀內應力(表面殘餘應力)的測量
831實驗目的
832實驗原理
833實驗方法與實例
第9章織構測定
91織構分類與表征
911織構的分類
912織構的表征方法
92極圖與反極圖的測定分析
921極圖的測定分析
922反極圖的測定分析
93取向分布函式
94實驗指導:織構的測定
941實驗目的
942實驗原理
943實驗方法與實例
第10章Rietveld結構精修
101發展歷程
102基本原理
1021峰位計算
1022結構因子和強度分布
1023整體衍射譜計算
1024最小二乘法擬合
1025擬合誤差判別
103測試方法
104分析套用
1041從頭計算晶體結構
1042X射線物相分析
1043測定晶粒大小和微應變
附錄
參考文獻

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