X衍射儀

X衍射儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2013年3月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：X衍射儀
• 產地：荷蘭
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2013年3月1日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

角度重現性，±0.0001o；測角準確度，0.0025o；探測器最大技術率，＞4×106 cps；99％線性範圍，＞106 cps；最小背景，＜0.2 cps；小角粒度測量範圍，（0～300）nm。

主要功能

可進行粉末及薄膜樣品的晶體結構分析，物相鑑定（物相定性、定量分析），相變分析，結晶度測定等。此外，還可進行小角散射納米粒度測定、應力測定、織構測定等。