多晶X衍射儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2005年01月11日啟用。
基本介紹
- 中文名:多晶X衍射儀
- 產地:德國
- 學科領域:物理學、化學、材料科學
- 啟用日期:2005年01月11日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀
多晶X衍射儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2005年01月11日啟用。
多晶X衍射儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2005年01月11日啟用。技術指標最大輸出功率:18kW;最大管電壓:60kV;最大管電流:450mA;測角圓半徑:270mm;索拉狹縫:2.5mm;入射狹...
X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡寫為XPD或XRD。有時會把它叫做x射線多晶體衍射儀,英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡寫仍為XPD或XRD。原理 x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X...
多晶X射線粉末衍射儀 多晶X射線粉末衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年7月1日啟用。技術指標 研究多晶樣品的成分和結構。主要功能 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構。
X射線粉末多晶衍射儀是一種用於化學、生物學、農學、林學領域的分析儀器,於2009年12月30日啟用。技術指標 角度重現性0.0001度,ztheta0.5-120度。主要功能 1.物相定性和定量分析. 2.結晶度測定. 3.晶粒大小測定. 4.單晶取向和多...
全自動多晶X射線衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2016年2月24日啟用。技術指標 光源部分:X射線發生器部分;最大輸出功率:9kW;額定電壓:20~45kV;額定電流:10~200mA;電流電壓穩定度:優於±0.01% (外電壓波動10%)時...
變溫全自動組合粉末多晶X-射線衍射儀是一種用於材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2014年6月1日啟用。技術指標 該設備是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它採用了理學獨創的CBO交叉光學系統,一台儀器可以進行從普通粉末樣品到...
JJG629-1989多晶X射線衍射儀 《JJG629-1989多晶X射線衍射儀》是1989年中國計量出版社出版的圖書。本規程適用於新製造的、使用中和修理後的多晶X射線衍射儀的檢定。
X射線衍射儀 基本構成 (1) 高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線, 改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長, 調節陽極電壓可控制X射線源的強度。(2) 樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體...
2.2晶體對X射線的衍射54 2.2.1衍射方向55 2.2.2衍射強度58 2.2.3衍射線的峰形61 2.3準晶體的衍射64 2.3.1準晶體64 2.3.2準晶體的衍射65 參考文獻65 第3章多晶X射線衍射儀66 3.1X射線衍射儀器設備概述66 3.1.1...
X射線光譜衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2014年08月01日啟用。技術指標 X射線是一種波長(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質,並能使螢光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。主要功能 廣...
多晶衍射法 多晶X射線衍射方法包括照相法與衍射儀法。照相法 照相法以光源發出的特徵X射線照射多晶樣品,並用底片記錄衍射花樣。根據樣品與底片的相對位置,照相法可以分為德拜法、聚焦法和針孔法,其中德拜法套用最為普遍。德拜法以...
主要的X射線分析儀器有單晶X射線衍射儀(主要用於晶體結構的確定)和多晶X射線衍射儀(又稱粉末X衍射儀,主要套用在物相分析、晶體結構分析、組構分析)。物相分析是X射線衍射在金屬中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把對材料測...
把此X 射線作為第二晶體的入射線, 第二晶體和計數管在衍射位置附近分別以及角度擺動, 就形成通常的雙晶衍射儀。多晶衍射法 多晶X 射線衍射方法包括照相法與衍射儀法。照相法以光源發出的特徵X 射線照攝多晶樣品, 並用底片記錄衍射...
外延薄膜X射線衍射儀能夠精確地對單晶或多晶樣品進行物相定性定量分析;薄膜材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析;結晶度分析、晶胞參數計算和固溶體分析;微觀應力及晶粒大小分析,微區分析、巨觀應力分析、織構ODF分析及高低溫原位分析;也...
X射線螢光衍射光譜儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2006年12月1日啟用。技術指標 上照式、波長色散掃描式螢光光譜儀,靶材及功率:Rh靶 4kW,可以對5B到92U進行快速定性、定量分析,元素的檢量範圍0.0001%~...
3.2 其他X射線衍射儀 第4章 X射線衍射數據 4.1 衍射峰位的確定方法 4.2 衍射線峰形 4.3 X射線衍射強度 4.4 衍射線分離 第5章 計算機在多晶體衍射中的套用 5.1 實驗譜的基本處理 5.2 實驗數據的分析與套用 5.3 相關...
小角散射X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於1994年1月10日啟用。技術指標 轉靶12 kW;Cu靶 Ka1,波長0.15405 nm;角度解析度0.01°。主要功能 基於多晶粉末X射線衍射測定材料的晶體結構。
X射線粉晶衍射儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年11月7日啟用。技術指標 包括長壽命X光管、X射線發生器、高精密測角儀、雙臂探測器系統,閃爍計數器,陣列探測器、標準樣品台,計算機控制系統、數據處理軟體、相關套用軟體和循環...
低溫X射線衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2014年9月1日啟用。技術指標 測角儀最小步長:0.0001度,測量溫度:100K到600K。主要功能 能夠精確測量低溫下多晶,單晶材料和薄膜材料的晶格結構和原子占位,薄膜厚度及...
根據在底片上測定的衍射線條的位置可以確定衍射角θ,如果知道λ的數值就可以推算產生本衍射線條的反射面的晶面間距。X射線衍射儀法 採用測角儀和計數器,準確地測出2θ角以及衍射強度,這種方法比照相法準確。因為照相法通過底片上的圓弧...
6.1多晶X射線衍射儀 61 6.1.1X射線發生器 61 6.1.2測角儀的光路系統 62 6.1.3X射線強度測量記錄系統 64 6.1.4衍射儀控制及衍射數據採集 分析系統 64 6.2多晶X射線衍射儀實驗技術 65 6.2.1具體實驗條件的選定 65 6...