超低溫X射線粉末與薄膜衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的計量儀器，於2016年6月7日啟用。
基本介紹
- 中文名：超低溫X射線粉末與薄膜衍射儀
- 產地：德國
- 學科領域：物理學、材料科學
- 啟用日期：2016年6月7日
- 所屬類別：計量儀器 > 時間頻率計量儀器 > 雷射冷卻銫原子噴泉時間頻率基準
技術指標,主要功能,
技術指標
低溫xrd測量至5K,歐拉樣品台,可以進行三方向xrd測量,電流40mA,電壓40kV,採用步進馬達驅動和光學編碼器技術,掃描方式θ/θ或θ/2θ測角儀；最小步進角度0.0001度；角度重現性0.0001度； 掃描角度範圍2θ＝-5度～150度；索拉(Soller)狹縫。 探測器：閃爍晶體計數器；動態範圍≥2×10^6cps；背底噪聲0.5cps。
主要功能
對粉末和薄膜進行結構研究。
