X射線雙晶衍射儀

X射線雙晶衍射儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2002年12月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：X射線雙晶衍射儀
• 產地：英國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2002年12月1日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線衍射儀

技術指標

多種半導體材料和器件結構的測試分析，包括Ⅲ-Ⅴ，Ⅱ-Ⅳ族和Si系列材料，如砷化鎵和氮化鎵系的多量子阱結構的測試。

主要功能

檢測。