掃描形貌儀

掃描形貌儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2015年3月10日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描形貌儀
• 產地：美國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2015年3月10日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡

技術指標

大範圍掃描器：XY 方向掃描範圍大於 120 um，Z 方向不小於 5 um； 高分辯掃描器： XY 方向掃描範圍大於 10 um，Z 方向不小於 2.5 um； 掃描器噪音：RMS < 0.3 Å (垂直方向)，橫向解析度：0.2 nm (XY方向)； 掃描方式：高分辨掃描，掃描管驅動樣品掃描，探針支架、探針及雷射頭掃描過程中保持位置恆定； 進針方式：智慧型自動進針方式（採用馬達加壓電陶瓷自動探測的智慧型進針模式，保護探針及樣品）； 智慧型掃描功能，只需選擇掃描速度及掃描範圍，無需尋找共振峰，無需調整反饋參數gain值（可直接液體環境成像）； 可通過熱振動方式標定探針微懸臂彈性常數，標定範圍：≥ 2 MHz； Digital Q control 技術（可數字控制 Q 值，提高信噪比）； 最大成像解析度達到一條線大於16000 點； 系統可實現 Lift Mode 的控制，抬高模式（對於表面磁學、電學特徵的表征）； 控制精度：控制器應在每根軸上至少有 3 個的 16 位的數模轉換器 DAC (共9個)，用來控制掃描尺寸、掃描形狀和偏移量，掃描數字解析度不依賴於掃描尺...。

主要功能

掃描探針顯微鏡(SPM) 能夠在大氣及液體環境下準確地觀測樣品表面微區（納米及亞微米尺度）三維形貌；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，能測試多種材料如纖維材料、膜材料、生物材料、高分子材料等非金屬材料以及金屬材料、複合材料的多種物性，包括表面組分區別、溫度、表面電勢、磁場力、靜電力、摩擦力、電流、掃描隧道顯微鏡和其他表面力以及電化學相互作用力的測量。